日本三豐粗(cu)糙(cao)度(du)儀(yi)SJ-210驅(qu)動維(wei)修(xiu)，勒(le)豐精密(mi)儀(yi)器(qi)主要代理(li)品牌(pai)有(you)：日本三豐，德國(guo)馬(ma)爾，瑞士(shi)TRIMOS，日本美(mei)能達(da)，德(de)國(guo)尼克(ke)斯(si)，日本Nikon，日本索尼，日本必佳，瑞士(shi)TESA，日本東(dong)日，德國(guo)BYK，日本得樂(le)，溫(wen)州山(shan)度(du)，成都成(cheng)量，沈陽(yang)天(tian)星，中國(guo)臺灣(wan)萬(wan)濠(hao)，山(shan)東(dong)華銀硬(ying)度計，北(bei)京時代(dai)等，涵蓋(gai)長度類、力(li)學(xue)類、光(guang)學(xue)類、物(wu)理(li)化(hua)學(xue)、表(biao)面塗(tu)裝、塗(tu)料檢驗(yan)儀(yi)器(qi)等方面。
| 品牌(pai) | MITUTOYO/日本三豐 | 應(ying)用(yong)領域 | 生(sheng)物(wu)產(chan)業(ye),電(dian)子/電(dian)池,鋼(gang)鐵(tie)/金(jin)屬(shu),汽車及(ji)零(ling)部件(jian),電(dian)氣 |
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日本三豐粗(cu)糙(cao)度(du)儀(yi)SJ-210驅(qu)動維(wei)修(xiu)，勒(le)豐精密(mi)儀(yi)器(qi)主要代理(li)品牌(pai)有(you)：日本三豐，德國(guo)馬(ma)爾，瑞士(shi)TRIMOS，日本美(mei)能達(da)，德(de)國(guo)尼克(ke)斯(si)，日本Nikon，日本索尼，日本必佳，瑞士(shi)TESA，日本東(dong)日，德國(guo)BYK，日本得樂(le)，溫(wen)州山(shan)度(du)，成都成(cheng)量，沈陽(yang)天(tian)星，中國(guo)臺灣(wan)萬(wan)濠(hao)，山(shan)東(dong)華銀硬(ying)度計，北(bei)京時代(dai)等，涵蓋(gai)長度類、力(li)學(xue)類、光(guang)學(xue)類、物(wu)理(li)化(hua)學(xue)、表(biao)面塗(tu)裝、塗(tu)料檢驗(yan)儀(yi)器(qi)等方面。
蘇州勒(le)豐精密(mi)儀(yi)器(qi)有(you)限公司(si)（德日維(wei)修(xiu)部）專業(ye)從事(shi)日本三豐，德國(guo)馬(ma)爾等品牌(pai)，以“質(zhi)量(liang)*”為(wei)宗(zong)旨(zhi)，向廣(guang)大市(shi)場(chang)提供(gong)千(qian)分(fen)尺，卡(ka)尺等量具(ju)；三(san)坐標(biao)測量機，形狀測量系統(tong)，視(shi)像測量系統(tong)，光(guang)學(xue)儀(yi)器(qi)等系統(tong)精(jing)密(mi)測量儀(yi)以(yi)及(ji)專業(ye)維(wei)修(xiu)服務(wu)中(zhong)心(xin)。公司(si)技(ji)術(shu)力(li)量(liang)雄厚，多(duo)名(ming)工(gong)程(cheng)師都是(shi)來自世界(jie)*的量具生(sheng)產(chan)企業(ye)，配(pei)件(jian)采用(yong)日本*，計量試驗(yan)室(shi)儀(yi)器(qi)都是(shi)進(jin)口(kou)測量儀(yi)器(qi)，為客戶解(jie)決(jue)維(wei)修(xiu)後(hou)精(jing)度不(bu)良的(de)後顧之憂，品質(zhi)服務(wu)由(you)計量質量(liang)檢測部門(men)支(zhi)持(chi)並出具相關維(wei)修(xiu)產(chan)品的(de)檢測報告，並與日本三豐“Mitutoyo”總代理(li)建(jian)立有(you)長期穩定(ding)的(de)合(he)作關系。是大陸(lu)地區專業(ye)的(de)量具量儀(yi)銷售(shou)及(ji)維(wei)修(xiu)服務(wu)商(shang)之壹。
專業(ye)維(wei)修(xiu)卡(ka)尺(chi)、高(gao)度尺(chi)、千(qian)分(fen)表(biao)、百(bai)分(fen)表(biao)、千(qian)分(fen)尺、內(nei)外徑(jing)量表(biao)、測厚規(gui)，粗(cu)糙(cao)度(du)儀(yi)，2D測高(gao)儀(yi)，工(gong)具顯(xian)微鏡等。
服務(wu)承(cheng)諾(nuo)： 提供(gong)免費上(shang)門(men)取件(jian) 提供(gong)免費檢(jian)測故障 提供(gong)2日內快修服務(wu)
質(zhi)量保證(zheng)： 維(wei)修(xiu)產(chan)品精(jing)度符合(he)國(guo)家精度標(biao)準
保修期限： 非人為(wei)損壞(huai)，同類故(gu)障保修3個(ge)月(yue)
日本三豐粗(cu)糙(cao)度(du)儀(yi)常(chang)見問(wen)題排(pai)除法
特(te)征(zheng)/錯誤信息(xi)可(ke)能存(cun)在(zai)的(de)原因處(chu)理(li)方(fang)法
電(dian)池不(bu)能充電(dian)●SJ-400用(yong)交(jiao)流(liu)適配器連(lian)接電(dian)流(liu)時忘(wang)了關掉。
●電(dian)池開(kai)關被(bei)關掉。
●內置電(dian)池出現損壞(huai)了（變(bian)質）。
●內(nei)置電(dian)池過度(du)放(fang)電(dian)。●打(da)開(kai)SJ-400，檢(jian)果(guo)電(dian)池圖(tu)標(biao)以確(que)保顯(xian)示圖(tu)標(biao)指明(ming)“Be charged在(zai)充電(dian)”
●打(da)開(kai)電(dian)池開(kai)關
●用(yong)新(xin)的(de)電(dian)池代(dai)替(ti)舊(jiu)的(de)。
●充電(dian)。
不(bu)能運(yun)行自(zi)動睡眠(mian)●RS-232C交(jiao)流(liu)還在(zai)運(yun)行。
●執(zhi)行統計過程(cheng)。
●交流(liu)適配器還在(zai)連(lian)接。
●自(zi)動睡眠(mian)功(gong)能設定(ding)為(wei)OFF。沒問題。在(zai)RS-232C交(jiao)流(liu)和統(tong)計過程(cheng)期間(jian)自動睡眠(mian)是(shi)無效(xiao)的(de)。按(an)“POWER”鍵(jian)關掉電(dian)源就(jiu)可(ke)以了。
觸(chu)摸(mo)屏顯(xian)示不(bu)清晰(xi)對(dui)比度調整不(bu)適當。打(da)開(kai)顯(xian)示器(qi)裝置後(hou)面的(de)對(dui)比度控(kong)制(zhi)按(an)鈕(niu)，適當調整對(dui)比度。
按(an)鍵(jian)或(huo)觸(chu)摸(mo)屏不(bu)能使(shi)用(yong)●RS-232模式還在(zai)運(yun)行
●鍵(jian)的屏蔽產(chan)生(sheng)作用(yong)。●關掉RS-232C開關。
●關掉鍵屏蔽(bi)開(kai)關。
存(cun)儲(chu)器(qi)錯誤1錯(cuo)誤位(wei)置：在(zai)內(nei)部存(cun)儲(chu)器(qi)中開機自檢錯誤。
存(cun)儲(chu)器(qi)錯誤2錯(cuo)誤位(wei)置：內(nei)部存(cun)儲(chu)器(qi)中內部存(cun)儲(chu)數據(ju)領域錯誤
系(xi)統錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：在(zai)輸(shu)入信號(hao)線(xian)路(lu)中自檢錯誤。
SPC錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：帶(dai)SPC裝(zhuang)置輸(shu)出SPC數據(ju)交流(liu)錯誤適當的(de)重(zhong)新(xin)連(lian)接SPC連(lian)接線(xian)。打(da)開(kai)電(dian)源進(jin)入數據(ju)處(chu)理(li)器(qi)。
打(da)印(yin)錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：打(da)印(yin)機沒有(you)紙(zhi)，不(bu)能接收(shou)打(da)印(yin)輸(shu)出要求增(zeng)加(jia)紙(zhi)張，再(zai)按(an)壹(yi)次PRINT
打(da)印(yin)錯(cuo)誤2錯(cuo)誤位(wei)置：打(da)印(yin)機的機頭出現錯(cuo)誤增(zeng)加(jia)紙(zhi)張，轉動拉桿。
打(da)印(yin)錯(cuo)誤3錯(cuo)誤位(wei)置：自(zi)動打(da)印(yin)機如果電(dian)池剩(sheng)余(yu)電(dian)量不(bu)到(dao)40—20%，充電(dian)。
關閉(bi)電(dian)源，等幾秒。如(ru)果(guo)電(dian)池剩(sheng)余(yu)電(dian)量超(chao)過60%--40%，打(da)開(kai)電(dian)源。再(zai)壹次打(da)印(yin)。如(ru)果(guo)問(wen)題(ti)持(chi)續(xu)，
存(cun)儲(chu)卡(ka)錯誤1錯(cuo)誤位(wei)置：當卡(ka)被(bei)寫(xie)保護時，執(zhi)行(xing)存(cun)儲(chu)卡(ka)的寫(xie)，格(ge)式或(huo)刪(shan)除要求從插(cha)槽中重(zhong)新(xin)移(yi)走(zou)存(cun)儲(chu)卡(ka)，取消寫(xie)保護，
存(cun)儲(chu)卡(ka)錯誤2錯(cuo)誤位(wei)置：存(cun)儲(chu)卡(ka)保存(cun)的(de)數據(ju)超出存(cun)儲(chu)容量(liang)。插(cha)入壹(yi)個(ge)新(xin)的(de)存(cun)儲(chu)卡(ka)並格(ge)式化。實行(xing)新(xin)的(de)保存(cun)操(cao)作
存(cun)儲(chu)卡(ka)錯誤3錯(cuo)誤位(wei)置：當讀(du)取存(cun)儲(chu)卡(ka)時，發(fa)生(sheng)轉(zhuan)存(cun)錯(cuo)誤。確(que)保存(cun)儲(chu)卡(ka)牢(lao)固(gu)地插(cha)在(zai)插(cha)槽上，如(ru)果沒有(you)，重新(xin)插(cha)好。
存(cun)儲(chu)卡(ka)錯誤4錯(cuo)誤位(wei)置：存(cun)儲(chu)卡(ka)沒有(you)被(bei)格(ge)式化，如(ru)果(guo)需(xu)要權(quan)限讀(du)、取，可(ke)能出現錯(cuo)誤格(ge)式化存(cun)儲(chu)卡(ka)。
存(cun)儲(chu)卡(ka)錯誤5錯(cuo)誤位(wei)置：在(zai)存(cun)取時，插(cha)槽沒有(you)卡。在(zai)插(cha)槽中插(cha)入壹(yi)個(ge)卡(ka)，如(ru)果是新(xin)的(de)，格(ge)式化它(ta)。
LCD顯(xian)示器(qi)什麽(me)都沒有(you)●對(dui)比度沒有(you)調整好(hao)。
●電(dian)源保持關閉(bi)狀態。當從前(qian)面查(zha)看時，反方(fang)向旋(xuan)轉對(dui)比度調整按(an)鈕(niu)，打(da)開(kai)電(dian)源。其次，調整LCD對(dui)比度。
日本三豐粗(cu)糙(cao)度(du)儀(yi)SJ-210驅(qu)動維(wei)修(xiu)
在(zai)具(ju)體(ti)的(de)時間(jian)段(duan)內(nei)，初(chu)始的範(fan)圍不(bu)能檢測或(huo)執(zhi)行正確(que)的(de)連(lian)接驅(qu)動/探測器裝置和顯(xian)示器(qi)裝置。如(ru)果(guo)問題(ti)持續(xu)存(cun)在(zai)，
驅(qu)動錯誤3錯(cuo)誤位(wei)置：沒有(you)正確(que)連(lian)接驅(qu)動/探測器裝置正(zheng)確(que)的(de)連(lian)接驅(qu)動/探測器裝置和顯(xian)示器(qi)裝置。如(ru)果(guo)問題(ti)持續(xu)存(cun)在(zai)，
限(xian)制(zhi)探(tan)測錯誤位(wei)置：驅(qu)動/探測器裝置
從在(zai)驅(qu)動範圍內(nei)測量進(jin)行壹(yi)半，探(tan)測器裝置滑(hua)行全部要求測量長度前(qian)，探(tan)測範圍末端(duan)已(yi)經(jing)探測到(dao)。在(zai)第(di)3頁面按(an)“Move the measurement start position”圖(tu)標(biao)或(huo)“Return it to the origin”圖(tu)標(biao)，進(jin)入測量開始位(wei)置（驅(qu)動範圍的(de)開(kai)始）以便(bian)能達(da)到(dao)測量長度。
探測器錯誤1錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測器
開始測量前(qian)，就(jiu)工(gong)件(jian)而言，探測器不(bu)在(zai)探(tan)測範圍內(nei)。在(zai)工(gong)件(jian)上正(zheng)確(que)地設定(ding)探(tan)測器，探測器正確(que)地依(yi)附在(zai)
探(tan)測器裝置。
探(tan)測器錯誤2錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測器
在(zai)測量時，就(jiu)工(gong)件(jian)而言，探測器超過探(tan)測範圍。在(zai)工(gong)件(jian)上正(zheng)確(que)地設定(ding)探(tan)測器，探測器正確(que)地依(yi)附在(zai)
探(tan)測器裝置。
探(tan)測器錯誤3錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測器
探測器不(bu)當地安(an)裝(zhuang)在(zai)在(zai)探(tan)測器裝置上(shang)。探(tan)測器正確(que)地依(yi)附在(zai)探(tan)測器裝置。
超(chao)出範圍錯(cuo)誤顯(xian)示“000”錯(cuo)誤位(wei)置：測量範圍
已(yi)探(tan)測數值超(chao)出當前(qian)測量範圍。使(shi)用(yong)壹(yi)個(ge)大的(de)測量範圍。
零(ling)位(wei)轉換錯誤錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)針(zhen)
通過提供(gong)的零(ling)位(wei)轉換數值，探(tan)針(zhen)位(wei)置不(bu)在(zai)規(gui)定(ding)的(de)範圍。調整探(tan)針(zhen)以使(shi)它(ta)的(de)位(wei)置能在(zai)規(gui)定(ding)的(de)範圍內(nei)。
DAT錯(cuo)誤
數據(ju)調整平臺錯(cuo)誤錯(cuo)誤位(wei)置：傾斜(xie)調整
在(zai)DAT測量期間(jian)，不(bu)能進(jin)行運(yun)算。在(zai)探(tan)測器和工(gong)件(jian)之間(jian)的傾斜(xie)角(jiao)度(du)太大。探(tan)測器的傾斜(xie)要進(jin)行精(jing)細調整。
Ra…………um錯(cuo)誤位(wei)置：運(yun)算裝(zhuang)置
●發(fa)生(sheng)參數運(yun)算錯(cuo)誤。
●發(fa)生(sheng)R面補(bu)償運(yun)算錯(cuo)誤。●修(xiu)改測量條件(jian)後再(zai)測量壹次。
●如果(guo)R面補(bu)償已經(jing)設定(ding)為(wei)ON，在(zai)啟(qi)動R面補(bu)償後再(zai)測量壹次。
☆25.65um錯誤位(wei)置：運(yun)算裝(zhuang)置
在(zai)測量期間(jian)，檢測到(dao)超出範圍。在(zai)數據(ju)前(qian)面將(jiang)粘(zhan)上(shang)壹(yi)顆(ke)“☆“使(shi)用(yong)壹(yi)個(ge)大的(de)測量範圍。
Rz#5.68um錯(cuo)誤位(wei)置：運(yun)算裝(zhuang)置
計算Rz峰谷(gu)或(huo)峰(feng)底(di)的(de)數據(ju)小(xiao)於規定(ding)的(de)數據(ju)。
“#“顯(xian)示在(zai)運(yun)算結(jie)果前(qian)。
Ra****m錯(cuo)誤位(wei)置：運(yun)算裝(zhuang)置
如(ru)果(guo)沒有(you)獲得(de)運(yun)算結(jie)果。
Rz L-P錯(cuo)誤位(wei)置：運(yun)算裝(zhuang)置
沒有(you)足夠的(de)峰谷(gu)或(huo)峰(feng)底(di)數據(ju)運(yun)算Rz或(huo)Sm。在(zai)運(yun)算結(jie)果前(qian)將(jiang)顯(xian)示L-P。
校(xiao)準錯誤錯(cuo)誤位(wei)置：校(xiao)準(zhun)
校準(zhun)測量結(jie)果超(chao)出可(ke)能範圍。
針(zhen)對(dui)觸摸(mo)屏上顯(xian)示的(de)數據(ju)，檢查(zha)參考標(biao)準塊(kuai)粗(cu)糙(cao)度(du)數值。確(que)保探測器在(zai)參考標(biao)準塊(kuai)上正確(que)地設定(ding)。
條件(jian)錯誤1在(zai)評(ping)價標(biao)準（測量條件(jian)1/3和2/3）和測量數據(ju)之間(jian)關系不(bu)相稱(cheng)檢查(zha)評價標(biao)準。
條件(jian)錯誤2在(zai)評(ping)價標(biao)準（測量條件(jian)1/3和2/3）和測量數據(ju)之間(jian)關系不(bu)相稱(cheng)檢查(zha)測量條件(jian)。
條件(jian)錯誤3不(bu)能計算R面補(bu)償測量數據(ju)不(bu)能實行(xing)R面補(bu)償。關掉R面補(bu)償。
不(bu)能設定(ding)Ry表(biao)面粗(cu)糙(cao)標(biao)準已(yi)經(jing)設定(ding)為(wei)JIS01，ISO97，ANSI 或(huo)VDA。標(biao)準（JIS：2001，ISO：1997）修(xiu)訂時，參數符號的含義(yi)也(ye)修(xiu)改了。舊(jiu)的標(biao)準版本的Ry改為(wei)Rz，避(bi)免使(shi)用(yong)Ry。因(yin)此(ci)，根據(ju)標(biao)準（JIS：2001，ISO：1997），儀(yi)器(qi)不(bu)能設定(ding)Ry或(huo)Py參數。
如果有(you)需要Ry，那麽(me)把(ba)標(biao)準改(gai)回“JIS‘82”或(huo)“JIS‘94”任(ren)壹版本才開(kai)始實行(xing)測量。
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