
如(ru)果觸(chu)摸(mo)屏(ping)上出現壹條(tiao)錯(cuo)誤(wu)信(xin)息(xi),查(zha)找如下(xia)列(lie)表(biao),識(shi)別錯(cuo)誤(wu)尋求合(he)適(shi)的處(chu)理方法(fa)。根(gen)據(ju)信(xin)息(xi)或(huo)關(guan)閉窗(chuang)口按(an)‘OK“鍵鍵或(huo)其(qi)它(ta)鍵。然(ran)後(hou)針(zhen)對錯(cuo)誤(wu)采取必要的措(cuo)施。
| 品牌 | MITUTOYO/日(ri)本三豐(feng) |
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蘇(su)州勒豐(feng)精(jing)密儀器有限(xian)公司(德(de)日(ri)維修(xiu)部)專(zhuan)業(ye)從(cong)事(shi)日(ri)本三豐(feng),德(de)國馬爾(er)等(deng)品牌,以“質量*”為(wei)宗旨(zhi),向範(fan)圍(wei)的(de)廣(guang)大(da)市(shi)場提供千分尺,卡(ka)尺等(deng)量具(ju);三坐標(biao)測量機,形(xing)狀測(ce)量系(xi)統,視(shi)像測量系(xi)統,光學(xue)儀器等系(xi)統精(jing)密測(ce)量儀以及專(zhuan)業維修(xiu)服務中(zhong)心(xin)。公司技術(shu)力量雄(xiong)厚,多(duo)名工(gong)程師都是(shi)來自(zi)世界*的量具(ju)生(sheng)產(chan)企(qi)業,配(pei)件采(cai)用日(ri)本*,計量試(shi)驗(yan)室(shi)儀器都是(shi)進(jin)口測(ce)量儀器,為客戶(hu)解決維(wei)修(xiu)後(hou)精(jing)度不良的(de)後(hou)顧之憂(you),品質服務由(you)計量質(zhi)量檢測部(bu)門(men)支持並(bing)出具(ju)相關維(wei)修(xiu)產(chan)品的檢測報(bao)告(gao),並(bing)與日(ri)本三豐(feng)“Mitutoyo”總(zong)代理建立有長期穩定的合(he)作(zuo)關系(xi)。是(shi)大(da)陸(lu)地(di)區(qu)*的(de)量具(ju)量儀銷售(shou)及維(wei)修服務商之壹。
專(zhuan)業(ye)維修卡尺、高(gao)度尺、千(qian)分表(biao)、百(bai)分表(biao)、千(qian)分尺、內(nei)外(wai)徑(jing)量表(biao)、測(ce)厚規(gui),粗糙度儀,2D測高(gao)儀,工(gong)具(ju)顯(xian)微鏡等。
服務承諾: 提(ti)供免費(fei)上門(men)取件 提(ti)供免費(fei)檢測故(gu)障(zhang) 提供2日(ri)內快(kuai)修服務
質(zhi)量保(bao)證: 維修(xiu)產(chan)品精度符合(he)國家精(jing)度標(biao)準
保(bao)修期(qi)限(xian): 非(fei)人(ren)為(wei)損壞,同類(lei)故(gu)障(zhang)保(bao)修3個(ge)月
日(ri)本三豐(feng)粗(cu)糙度儀常見問(wen)題(ti)排除法(fa)
如(ru)果觸(chu)摸(mo)屏(ping)上出現壹條(tiao)錯(cuo)誤(wu)信(xin)息(xi),查(zha)找如下(xia)列(lie)表(biao),識(shi)別錯(cuo)誤(wu)尋求合(he)適(shi)的處(chu)理方法(fa)。根(gen)據(ju)信(xin)息(xi)或(huo)關(guan)閉窗(chuang)口按(an)‘OK“鍵鍵或(huo)其(qi)它(ta)鍵。然(ran)後(hou)針(zhen)對錯(cuo)誤(wu)采取必要的措(cuo)施。
特(te)征/錯(cuo)誤(wu)信(xin)息(xi)可(ke)能存在(zai)的(de)原(yuan)因(yin)處(chu)理方法(fa)
電(dian)池不能充(chong)電(dian)●SJ-400用交(jiao)流(liu)適(shi)配器(qi)連(lian)接(jie)電(dian)流(liu)時忘了(le)關(guan)掉(diao)。
●電池開(kai)關被(bei)關(guan)掉(diao)。
●內置電(dian)池出現損壞了(變(bian)質)。
●內置電(dian)池過度放(fang)電(dian)。●打開(kai)SJ-400,檢果電池圖標(biao)以確保(bao)顯(xian)示(shi)圖標(biao)指(zhi)明(ming)“Be charged在(zai)充(chong)電(dian)”
●打開(kai)電池開(kai)關
●用(yong)新的電池代替(ti)舊(jiu)的(de)。
●充(chong)電(dian)。
不能運行自(zi)動睡(shui)眠●RS-232C交(jiao)流(liu)還在(zai)運(yun)行。
●執(zhi)行統(tong)計過程。
●交(jiao)流(liu)適(shi)配器(qi)還在(zai)連(lian)接(jie)。
●自動睡(shui)眠功(gong)能設定為OFF。沒問(wen)題(ti)。在(zai)RS-232C交(jiao)流(liu)和(he)統(tong)計過程期間自動睡(shui)眠是(shi)無效的。按(an)“POWER”鍵關(guan)掉(diao)電源(yuan)就(jiu)可(ke)以了。
觸(chu)摸(mo)屏(ping)顯(xian)示(shi)不清晰(xi)對比(bi)度調整不適(shi)當。打開(kai)顯(xian)示(shi)器裝置後(hou)面的對比(bi)度控制按(an)鈕(niu),適(shi)當調整對比(bi)度。
按(an)鍵或(huo)觸(chu)摸(mo)屏(ping)不能使用●RS-232模式還在(zai)運(yun)行
●鍵的(de)屏(ping)蔽產(chan)生(sheng)作(zuo)用。●關(guan)掉(diao)RS-232C開(kai)關。
●關(guan)掉(diao)鍵屏(ping)蔽開(kai)關。
存儲(chu)器(qi)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:在(zai)內(nei)部(bu)存儲(chu)器(qi)中(zhong)開(kai)機自檢錯(cuo)誤(wu)。妳的SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
存儲(chu)器(qi)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:內(nei)部(bu)存儲(chu)器(qi)中(zhong)內(nei)部存儲(chu)數(shu)據(ju)領(ling)域錯(cuo)誤(wu)妳的SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
系(xi)統錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:在(zai)輸(shu)入(ru)信(xin)號線(xian)路(lu)中(zhong)自檢錯(cuo)誤(wu)。妳的SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
SPC錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:帶SPC裝置輸(shu)出(chu)SPC數(shu)據(ju)交(jiao)流(liu)錯(cuo)誤(wu)適(shi)當的(de)重(zhong)新連(lian)接(jie)SPC連(lian)接(jie)線(xian)。打開(kai)電源(yuan)進入(ru)數(shu)據(ju)處(chu)理器(qi)。
打印(yin)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:打印(yin)機沒有紙,不能接(jie)收(shou)打印(yin)輸(shu)出要(yao)求增(zeng)加紙張(zhang),再(zai)按(an)壹次(ci)PRINT
打印(yin)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:打印(yin)機的機頭出現錯(cuo)誤(wu)增(zeng)加紙張(zhang),轉(zhuan)動拉桿。
打印(yin)錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:自(zi)動打印(yin)機如果電池剩(sheng)余電量不到40—20%,充(chong)電(dian)。
關閉電(dian)源(yuan),等幾(ji)秒(miao)。如(ru)果電池剩(sheng)余電量超過60%--40%,打開(kai)電源(yuan)。再壹(yi)次(ci)打印(yin)。如(ru)果問(wen)題(ti)持續(xu),
妳的SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
存儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:當卡(ka)被(bei)寫保(bao)護時(shi),執行存儲(chu)卡(ka)的(de)寫,格式或(huo)刪除要求從(cong)插槽(cao)中重(zhong)新移走存儲(chu)卡(ka),取(qu)消(xiao)寫保(bao)護,
存儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:存儲(chu)卡(ka)保(bao)存的(de)數(shu)據(ju)超出存儲(chu)容(rong)量。插入(ru)壹個(ge)新的存儲(chu)卡(ka)並(bing)格式化(hua)。實(shi)行新的保(bao)存操(cao)作
存儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:當讀(du)取存儲(chu)卡(ka)時(shi),發(fa)生(sheng)轉(zhuan)存錯(cuo)誤(wu)。確保(bao)存儲(chu)卡(ka)牢(lao)固(gu)地插在(zai)插槽(cao)上,如果沒有(you),重(zhong)新插好(hao)。
存儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)4錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:存儲(chu)卡(ka)沒(mei)有(you)被格式化(hua),如(ru)果需要(yao)權(quan)限(xian)讀(du)、取,可(ke)能出現錯(cuo)誤(wu)格式化(hua)存儲(chu)卡(ka)。
存儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)5錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:在(zai)存取(qu)時,插槽(cao)沒有(you)卡。在(zai)插槽(cao)中插入(ru)壹個(ge)卡(ka),如(ru)果是(shi)新的,格式化(hua)它(ta)。
LCD顯(xian)示(shi)器什麽都沒(mei)有●對比(bi)度沒有調整好(hao)。
●電源(yuan)保(bao)持關(guan)閉狀(zhuang)態(tai)。當從(cong)前面查看時,反(fan)方向旋(xuan)轉對比(bi)度調整按(an)鈕(niu),打開(kai)電源(yuan)。其(qi)次(ci),調整LCD對比(bi)度。
驅(qu)動錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:驅(qu)動/探(tan)測器裝置
在(zai)具(ju)體的時(shi)間(jian)段(duan)內(nei),初(chu)始(shi)的範(fan)圍(wei)不能檢測或(huo)執(zhi)行正確的連(lian)接(jie)驅(qu)動/探(tan)測器裝置和(he)顯(xian)示(shi)器裝置。如(ru)果問(wen)題(ti)持續(xu)存在(zai),妳(ni)的(de)SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
驅(qu)動錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:沒(mei)有(you)正確連(lian)接(jie)驅(qu)動/探(tan)測器裝置正確的連(lian)接(jie)驅(qu)動/探(tan)測器裝置和(he)顯(xian)示(shi)器裝置。如(ru)果問(wen)題(ti)持續(xu)存在(zai),妳(ni)的(de)SJ-400代理商或zui近的(de)MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。
限(xian)制探(tan)測錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:驅(qu)動/探(tan)測器裝置
從(cong)在(zai)驅(qu)動範(fan)圍(wei)內(nei)測(ce)量進(jin)行壹(yi)半,探(tan)測器裝置滑(hua)行全(quan)部要(yao)求測(ce)量長(chang)度前,探(tan)測範(fan)圍(wei)末(mo)端(duan)已(yi)經探(tan)測到。在(zai)第3頁(ye)面按(an)“Move the measurement start position”圖(tu)標(biao)或“Return it to the origin”圖(tu)標(biao),進入(ru)測量開(kai)始位(wei)置(驅(qu)動範(fan)圍(wei)的(de)開(kai)始)以便(bian)能達到(dao)測量長(chang)度。
探(tan)測器錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:探(tan)測器
開(kai)始測(ce)量前,就(jiu)工(gong)件(jian)而言(yan),探(tan)測器不在(zai)探(tan)測範(fan)圍(wei)內(nei)。在(zai)工(gong)件(jian)上正確地設定探(tan)測器,探(tan)測器正確地依附在(zai)
探(tan)測器裝置。
探(tan)測器錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:探(tan)測器
在(zai)測(ce)量時(shi),就(jiu)工(gong)件(jian)而言(yan),探(tan)測器超過探(tan)測範(fan)圍(wei)。在(zai)工(gong)件(jian)上正確地設定探(tan)測器,探(tan)測器正確地依附在(zai)
探(tan)測器裝置。
探(tan)測器錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:探(tan)測器
探(tan)測器不當地(di)安(an)裝在(zai)在(zai)探(tan)測器裝置上。探(tan)測器正確地依附在(zai)探(tan)測器裝置。
超出範(fan)圍(wei)錯(cuo)誤(wu)顯(xian)示(shi)“000”錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:測(ce)量範(fan)圍(wei)
已(yi)探(tan)測數(shu)值(zhi)超出當前測量範(fan)圍(wei)。使用壹(yi)個(ge)大(da)的(de)測(ce)量範(fan)圍(wei)。
零位(wei)轉(zhuan)換(huan)錯(cuo)誤(wu)錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:探(tan)針(zhen)
通(tong)過提(ti)供的零位(wei)轉(zhuan)換(huan)數(shu)值(zhi),探(tan)針(zhen)位(wei)置不在(zai)的(de)範(fan)圍(wei)。調整探(tan)針(zhen)以使它(ta)的(de)位(wei)置能在(zai)的(de)範(fan)圍(wei)內(nei)。
DAT錯(cuo)誤(wu)
數(shu)據(ju)調整平(ping)臺錯(cuo)誤(wu)錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:傾(qing)斜(xie)調整
在(zai)DAT測量期(qi)間,不能進行運(yun)算。在(zai)探(tan)測器和工(gong)件(jian)之(zhi)間(jian)的傾(qing)斜(xie)角度太大(da)。探(tan)測器的傾(qing)斜(xie)要進行精(jing)細調整。
Ra…………um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:運(yun)算(suan)裝置
●發(fa)生(sheng)參(can)數(shu)運(yun)算(suan)錯(cuo)誤(wu)。
●發(fa)生(sheng)R面補(bu)償運(yun)算錯(cuo)誤(wu)。●修改測量條(tiao)件後(hou)再(zai)測(ce)量壹(yi)次(ci)。
●如(ru)果R面補(bu)償已(yi)經設定為ON,在(zai)啟(qi)動R面補(bu)償後(hou)再(zai)測(ce)量壹(yi)次(ci)。
☆25.65um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:運(yun)算(suan)裝置
在(zai)測(ce)量期(qi)間,檢測到(dao)超出範(fan)圍(wei)。在(zai)數(shu)據(ju)前面將粘(zhan)上壹顆(ke)“☆“使用壹(yi)個(ge)大(da)的(de)測(ce)量範(fan)圍(wei)。
Rz#5.68um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:運(yun)算(suan)裝置
計算Rz峰(feng)谷(gu)或(huo)峰(feng)底的(de)數(shu)據(ju)小(xiao)於(yu)的(de)數(shu)據(ju)。
“#“顯(xian)示(shi)在(zai)運(yun)算(suan)結果前。
Ra****m錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:運(yun)算(suan)裝置
如(ru)果沒有(you)獲(huo)得(de)運(yun)算結果。
Rz L-P錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:運(yun)算(suan)裝置
沒(mei)有(you)足夠(gou)的峰(feng)谷或峰底數(shu)據(ju)運(yun)算(suan)Rz或Sm。在(zai)運(yun)算(suan)結果前將顯(xian)示(shi)L-P。
校(xiao)準錯(cuo)誤(wu)錯(cuo)誤(wu)位(wei)置:校(xiao)準
校(xiao)準測(ce)量結果超出可(ke)能範(fan)圍(wei)。
針(zhen)對觸(chu)摸(mo)屏(ping)上顯(xian)示(shi)的數(shu)據(ju),檢查參(can)考標(biao)準塊(kuai)粗糙度數(shu)值(zhi)。確(que)保(bao)探(tan)測器在(zai)參(can)考標(biao)準塊(kuai)上正確地設定。
條(tiao)件錯(cuo)誤(wu)1在(zai)評(ping)價標(biao)準(測(ce)量條(tiao)件1/3和(he)2/3)和(he)測量數(shu)據(ju)之(zhi)間(jian)關(guan)系(xi)不相稱(cheng)檢查評(ping)價標(biao)準。
條(tiao)件錯(cuo)誤(wu)2在(zai)評(ping)價標(biao)準(測(ce)量條(tiao)件1/3和(he)2/3)和(he)測量數(shu)據(ju)之(zhi)間(jian)關(guan)系(xi)不相稱(cheng)檢查測(ce)量條(tiao)件。
條(tiao)件錯(cuo)誤(wu)3不能計算R面補(bu)償測(ce)量數(shu)據(ju)不能實行R面補(bu)償。關(guan)掉(diao)R面補(bu)償。
不能設定Ry表(biao)面粗糙標(biao)準已(yi)經設定為JIS01,ISO97,ANSI 或(huo)VDA。標(biao)準(JIS:2001,ISO:1997)修(xiu)訂(ding)時,參(can)數(shu)符號的(de)含(han)義(yi)也(ye)修(xiu)改了。舊(jiu)的(de)標(biao)準版(ban)本的Ry改為Rz,避(bi)免使用Ry。因此,根(gen)據(ju)標(biao)準(JIS:2001,ISO:1997),儀器不能設定Ry或(huo)Py參(can)數(shu)。
如(ru)果有需(xu)要Ry,那(na)麽把(ba)標(biao)準改回“JIS‘82”或(huo)“JIS‘94”任(ren)壹(yi)版(ban)本才開(kai)始實(shi)行測(ce)量。
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