哪裏(li)有(you)維修(xiu)三(san)豐(feng)粗(cu)糙度儀 鎮(zhen)江(jiang)儀維(wei)修(xiu)修(xiu)理

• 更(geng)新日期：2025-09-15

哪裏(li)有(you)維修(xiu)三(san)豐(feng)粗(cu)糙度儀 鎮(zhen)江(jiang)儀維(wei)修(xiu)修(xiu)理：
如(ru)果觸摸(mo)屏上出現(xian)壹(yi)條錯(cuo)誤信息，查(zha)找(zhao)如(ru)下列(lie)表，識(shi)別錯(cuo)誤尋求合適(shi)的處(chu)理方(fang)法(fa)。根(gen)據信息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口(kou)按(an)‘OK“鍵(jian)鍵(jian)或(huo)其它鍵(jian)。然後(hou)針(zhen)對錯(cuo)誤采(cai)取(qu)必要的措施。

訂(ding)購留(liu)言(yan)

        蘇(su)州(zhou)勒豐(feng)精(jing)密儀器有限(xian)公司（德(de)日維修(xiu)部）是專業從(cong)事(shi)日本三(san)豐(feng)、德(de)國馬爾等品牌量具、量儀的專業服(fu)務中心。公司(si)技(ji)術力(li)量雄厚(hou)，多名工程師都(dou)是來自(zi)世(shi)界的量具生(sheng)產(chan)企(qi)業(ye)，配件采用*，計量試驗室儀器都(dou)是進口(kou)測(ce)量儀器，為(wei)客戶解(jie)決維(wei)修(xiu)後(hou)精(jing)度不(bu)良(liang)的煩惱，品質服(fu)務由計(ji)量質量檢(jian)測(ce)部門支(zhi)持(chi)並(bing)出具(ju)相關(guan)維修(xiu)產(chan)品的檢(jian)測(ce)報告，並(bing)與(yu)“Mitutoyo” “Mahr”總(zong)代(dai)理(li)建(jian)立有(you)長期穩(wen)定的合作關(guan)系。是大(da)陸(lu)地區(qu)專業的量具量儀維(wei)修(xiu)服(fu)務商(shang)之壹。      
       專業維(wei)修(xiu)卡尺(chi)、高(gao)度尺(chi)、千分(fen)表、百(bai)分(fen)表、千分(fen)尺、內(nei)外(wai)徑(jing)量表、測(ce)厚(hou)規，粗(cu)糙度儀，2D測(ce)高(gao)儀，工具(ju)顯(xian)微鏡(jing)等(deng)。
服(fu)務承諾： 提(ti)供免(mian)費(fei)上門取(qu)件  提(ti)供免(mian)費(fei)檢(jian)測(ce)故障(zhang)   提(ti)供2日內快修(xiu)服(fu)務
質量保證： 維修(xiu)產(chan)品精(jing)度符(fu)合國家(jia)精(jing)度標(biao)準
保修(xiu)期限(xian)： 非人為(wei)損壞(huai)，同(tong)類故障保修(xiu)3個月
 
日本三(san)豐(feng)粗(cu)糙度儀常見(jian)問題排(pai)除(chu)法(fa)

如(ru)果觸摸(mo)屏上出現(xian)壹(yi)條錯(cuo)誤信息，查(zha)找(zhao)如(ru)下列(lie)表，識(shi)別錯(cuo)誤尋求合適(shi)的處(chu)理方(fang)法(fa)。根(gen)據信息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口(kou)按(an)‘OK“鍵(jian)鍵(jian)或(huo)其它鍵(jian)。然後(hou)針(zhen)對錯(cuo)誤采(cai)取(qu)必要的措施。

特征(zheng)/錯(cuo)誤信息可(ke)能存(cun)在的原因(yin)處(chu)理方(fang)法(fa)

電池(chi)不(bu)能(neng)充(chong)電●SJ-400用交流(liu)適(shi)配器連(lian)接(jie)電流(liu)時(shi)忘(wang)了(le)關掉。

●電池(chi)開關(guan)被(bei)關(guan)掉。

●內置(zhi)電池(chi)出現(xian)損壞(huai)了（變(bian)質）。

●內置(zhi)電池(chi)過度放(fang)電。●打(da)開SJ-400，檢(jian)果(guo)電池(chi)圖標(biao)以(yi)確(que)保顯(xian)示(shi)圖標(biao)指(zhi)明(ming)“Be charged在充(chong)電”

●打(da)開電池(chi)開關(guan)

●用新的電池(chi)代(dai)替(ti)舊的。

●充(chong)電。

不(bu)能(neng)運行自(zi)動睡(shui)眠●RS-232C交(jiao)流(liu)還在運行。

●執(zhi)行(xing)統(tong)計(ji)過(guo)程。

●交流(liu)適(shi)配器還在連(lian)接(jie)。

●自(zi)動睡(shui)眠功能(neng)設定為(wei)OFF。沒(mei)問(wen)題。在RS-232C交(jiao)流(liu)和統(tong)計過(guo)程期間(jian)自(zi)動睡(shui)眠是無效(xiao)的。按(an)“POWER”鍵(jian)關(guan)掉電源(yuan)就(jiu)可(ke)以(yi)了(le)。

觸摸(mo)屏顯示(shi)不(bu)清晰對比(bi)度調(tiao)整不(bu)適(shi)當。打(da)開顯(xian)示器裝置後(hou)面的對比(bi)度控(kong)制按(an)鈕(niu)，適(shi)當調(tiao)整對(dui)比(bi)度。

按(an)鍵(jian)或(huo)觸摸(mo)屏不(bu)能(neng)使用●RS-232模式(shi)還在運行

●鍵(jian)的屏蔽(bi)產(chan)生(sheng)作用。●關掉RS-232C開關(guan)。

●關(guan)掉鍵(jian)屏(ping)蔽(bi)開關(guan)。

存(cun)儲器錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：在內(nei)部存(cun)儲器中開機自(zi)檢(jian)錯(cuo)誤。妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

存(cun)儲器錯(cuo)誤2錯(cuo)誤位(wei)置：內(nei)部存(cun)儲器中內部存(cun)儲數(shu)據領域錯(cuo)誤妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)就(jiu)近的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

系統(tong)錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：在輸(shu)入信號線路中(zhong)自(zi)檢(jian)錯(cuo)誤。妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)就(jiu)近的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

SPC錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：帶(dai)SPC裝置輸出(chu)SPC數(shu)據交流(liu)錯(cuo)誤適(shi)當的重新(xin)連(lian)接(jie)SPC連(lian)接(jie)線。打(da)開電源(yuan)進(jin)入數(shu)據處(chu)理器。

打(da)印錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：打(da)印機沒(mei)有(you)紙，不(bu)能(neng)接(jie)收(shou)打(da)印輸(shu)出要求增加(jia)紙張(zhang)，再(zai)按(an)壹(yi)次(ci)PRINT

打(da)印錯(cuo)誤2錯(cuo)誤位(wei)置：打(da)印機的機頭出現(xian)錯(cuo)誤增加(jia)紙張(zhang)，轉動拉桿。

打(da)印錯(cuo)誤3錯(cuo)誤位(wei)置：自(zi)動打(da)印機如(ru)果電池(chi)剩(sheng)余(yu)電量不(bu)到(dao)40—20%，充(chong)電。

關(guan)閉(bi)電源(yuan)，等(deng)幾秒(miao)。如(ru)果電池(chi)剩(sheng)余(yu)電量超過60%--40%，打(da)開電源(yuan)。再(zai)壹(yi)次(ci)打(da)印。如(ru)果問題持(chi)續(xu)，

妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)就(jiu)近的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

存(cun)儲卡錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：當(dang)卡被(bei)寫(xie)保護(hu)時(shi)，執(zhi)行存(cun)儲卡的寫，格(ge)式(shi)或(huo)刪除(chu)要求從(cong)插(cha)槽中重新(xin)移走(zou)存(cun)儲卡，取(qu)消寫(xie)保護(hu)，

存(cun)儲卡錯(cuo)誤2錯(cuo)誤位(wei)置：存(cun)儲卡保存(cun)的數(shu)據超出(chu)存(cun)儲容量。插入壹個新(xin)的存(cun)儲卡並(bing)格式(shi)化(hua)。實(shi)行新的保存(cun)操作(zuo)

存(cun)儲卡錯(cuo)誤3錯(cuo)誤位(wei)置：當(dang)讀取(qu)存(cun)儲卡時(shi)，發(fa)生(sheng)轉存(cun)錯(cuo)誤。確(que)保存(cun)儲卡牢固(gu)地(di)插(cha)在插(cha)槽上，如(ru)果沒(mei)有(you)，重(zhong)新(xin)插好。

存(cun)儲卡錯(cuo)誤4錯(cuo)誤位(wei)置：存(cun)儲卡沒(mei)有(you)被(bei)格(ge)式(shi)化(hua)，如(ru)果需要權(quan)限(xian)讀、取(qu)，可(ke)能出現(xian)錯(cuo)誤格(ge)式(shi)化(hua)存(cun)儲卡。

存(cun)儲卡錯(cuo)誤5錯(cuo)誤位(wei)置：在存(cun)取(qu)時(shi)，插(cha)槽沒(mei)有(you)卡(ka)。在插(cha)槽中(zhong)插(cha)入壹個卡(ka)，如(ru)果是新的，格式(shi)化(hua)它。

LCD顯示器什(shen)麽都(dou)沒(mei)有(you)●對(dui)比(bi)度沒(mei)有(you)調(tiao)整好(hao)。

●電源(yuan)保持(chi)關(guan)閉(bi)狀態(tai)。當(dang)從(cong)前(qian)面查(zha)看(kan)時(shi)，反(fan)方(fang)向(xiang)旋轉對比(bi)度調(tiao)整按(an)鈕(niu)，打(da)開電源(yuan)。其次(ci)，調整LCD對(dui)比(bi)度。

驅動錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：驅動/探測(ce)器裝置

在具(ju)體(ti)的時(shi)間(jian)段內(nei)，初始的範圍不(bu)能(neng)檢(jian)測(ce)或(huo)執(zhi)行(xing)正(zheng)確(que)的連(lian)接(jie)驅動/探測(ce)器裝置和顯(xian)示器裝置。如(ru)果問題持(chi)續(xu)存(cun)在，妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)就(jiu)近的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

驅動錯(cuo)誤3錯(cuo)誤位(wei)置：沒(mei)有(you)正(zheng)確(que)連(lian)接(jie)驅動/探測(ce)器裝置正確(que)的連(lian)接(jie)驅動/探測(ce)器裝置和顯(xian)示器裝置。如(ru)果問題持(chi)續(xu)存(cun)在，妳的SJ-400代(dai)理(li)商(shang)或(huo)就(jiu)近的MITUTOYO銷(xiao)售辦(ban)事(shi)處(chu)。

限(xian)制探測(ce)錯(cuo)誤位(wei)置：驅動/探測(ce)器裝置

從(cong)在驅動範圍內測(ce)量進行壹半(ban)，探(tan)測(ce)器裝置滑行(xing)全部(bu)要求測(ce)量長度前(qian)，探(tan)測(ce)範圍末端已(yi)經(jing)探(tan)測(ce)到(dao)。在第(di)3頁面按(an)“Move the measurement start position”圖(tu)標(biao)或(huo)“Return it to the origin”圖(tu)標(biao)，進入測(ce)量開始位(wei)置（驅動範圍的開始）以(yi)便(bian)能(neng)達(da)到(dao)測(ce)量長度。

探(tan)測(ce)器錯(cuo)誤1錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測(ce)器

開始測(ce)量前(qian)，就(jiu)工件而言(yan)，探測(ce)器不(bu)在探(tan)測(ce)範圍內。在工件上正確(que)地設定探(tan)測(ce)器，探測(ce)器正確(que)地依(yi)附在

探(tan)測(ce)器裝置。

探測(ce)器錯(cuo)誤2錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測(ce)器

在測(ce)量時(shi)，就(jiu)工件而言(yan)，探測(ce)器超過探測(ce)範圍。在工件上正確(que)地設定探(tan)測(ce)器，探測(ce)器正確(que)地依(yi)附在

探(tan)測(ce)器裝置。

探測(ce)器錯(cuo)誤3錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)測(ce)器

探測(ce)器不(bu)當(dang)地(di)安(an)裝在在探(tan)測(ce)器裝置上。探測(ce)器正確(que)地依(yi)附在探(tan)測(ce)器裝置。

超出(chu)範圍錯(cuo)誤顯(xian)示(shi)“000”錯(cuo)誤位(wei)置：測(ce)量範圍

已探測(ce)數(shu)值超(chao)出(chu)當前(qian)測(ce)量範圍。使用壹個大(da)的測(ce)量範圍。

零位(wei)轉換錯(cuo)誤錯(cuo)誤位(wei)置：探(tan)針

通過提(ti)供的零位(wei)轉換數(shu)值，探(tan)針(zhen)位(wei)置不(bu)在的範圍。調整探(tan)針(zhen)以(yi)使它的位(wei)置能(neng)在的範圍內。

DAT錯(cuo)誤

數(shu)據調整平(ping)臺錯(cuo)誤錯(cuo)誤位(wei)置：傾(qing)斜(xie)調(tiao)整

在DAT測(ce)量期間(jian)，不(bu)能(neng)進(jin)行運算。在探(tan)測(ce)器和工件之間(jian)的傾(qing)斜(xie)角(jiao)度太大(da)。探測(ce)器的傾(qing)斜(xie)要進行精(jing)細調整。

Ra…………um錯(cuo)誤位(wei)置：運算裝置

●發(fa)生(sheng)參數(shu)運算錯(cuo)誤。

●發(fa)生(sheng)R面補(bu)償(chang)運算錯(cuo)誤。●修(xiu)改(gai)測(ce)量條件後(hou)再(zai)測(ce)量壹次(ci)。

●如(ru)果R面補(bu)償(chang)已經(jing)設定為(wei)ON，在啟(qi)動R面補(bu)償(chang)後(hou)再(zai)測(ce)量壹次(ci)。

☆25.65um錯(cuo)誤位(wei)置：運算裝置

在測(ce)量期間(jian)，檢(jian)測(ce)到(dao)超出(chu)範圍。在數(shu)據前(qian)面將(jiang)粘上壹顆“☆“使用壹個大(da)的測(ce)量範圍。

Rz#5.68um錯(cuo)誤位(wei)置：運算裝置

計算(suan)Rz峰谷(gu)或(huo)峰(feng)底(di)的數(shu)據小於的數(shu)據。

“#“顯示(shi)在運算結(jie)果(guo)前(qian)。 

Ra****m錯(cuo)誤位(wei)置：運算裝置

如(ru)果沒(mei)有(you)獲(huo)得(de)運算結(jie)果(guo)。 

Rz L-P錯(cuo)誤位(wei)置：運算裝置

沒(mei)有(you)足夠的峰谷(gu)或(huo)峰(feng)底(di)數(shu)據運算Rz或(huo)Sm。在運算結(jie)果(guo)前(qian)將(jiang)顯(xian)示(shi)L-P。 

校(xiao)準錯(cuo)誤錯(cuo)誤位(wei)置：校(xiao)準

校(xiao)準測(ce)量結果超出(chu)可(ke)能範圍。

 針對觸摸(mo)屏上顯示(shi)的數(shu)據，檢(jian)查(zha)參考(kao)標(biao)準塊(kuai)粗(cu)糙度數(shu)值。確(que)保探(tan)測(ce)器在參(can)考標(biao)準塊(kuai)上正確(que)地設定。

條(tiao)件錯(cuo)誤1在評價標(biao)準（測(ce)量條件1/3和2/3）和(he)測(ce)量數(shu)據之間(jian)關系(xi)不(bu)相(xiang)稱(cheng)檢(jian)查(zha)評價標(biao)準。

條(tiao)件錯(cuo)誤2在評價標(biao)準（測(ce)量條件1/3和2/3）和(he)測(ce)量數(shu)據之間(jian)關系(xi)不(bu)相(xiang)稱(cheng)檢(jian)查(zha)測(ce)量條件。

條件錯(cuo)誤3不(bu)能(neng)計(ji)算R面補(bu)償(chang)測(ce)量數(shu)據不(bu)能(neng)實(shi)行R面補(bu)償(chang)。關掉R面補(bu)償(chang)。

不(bu)能(neng)設定Ry表(biao)面粗(cu)糙標(biao)準已(yi)經(jing)設定為(wei)JIS01，ISO97，ANSI 或(huo)VDA。標(biao)準（JIS：2001，ISO：1997）修(xiu)訂(ding)時(shi)，參(can)數(shu)符號據標(biao)準（JIS：2001，ISO：1997），儀器不(bu)能(neng)設定Ry或(huo)Py參(can)數(shu)。的含義(yi)也(ye)修(xiu)改(gai)了(le)。舊的標(biao)準版(ban)本的Ry改(gai)為(wei)Rz，避(bi)免(mian)使用Ry。因(yin)此，根(gen)據標(biao)準（JIS：2001，ISO：1997），儀器不(bu)能(neng)設定Ry或(huo)Py參(can)數(shu)。

如(ru)果有需(xu)要Ry，那(na)麽把(ba)標(biao)準改(gai)回“JIS‘82”或(huo)“JIS‘94”任壹版(ban)本才開(kai)始實(shi)行測(ce)量。