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      1. <dl id="pPdYBU"></dl>

        1. 網站首頁(ye) >> 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin) >> 售(shou)後(hou)服(fu)務 >> 粗糙度(du)儀(yi)維修 >> 常(chang)州(zhou)三(san)豐(feng)粗(cu)糙度(du)儀(yi)黑屏(ping)無法顯(xian)示維(wei)修修理(li)

          常州(zhou)三(san)豐(feng)粗(cu)糙度(du)儀(yi)黑屏(ping)無法顯(xian)示維(wei)修修理(li)

          • 更新日期:2025-09-15

          如(ru)果觸(chu)摸(mo)屏上出現壹條(tiao)錯誤信息(xi),查找如(ru)下列表(biao),識(shi)別錯誤(wu)尋求(qiu)合適(shi)的處(chu)理(li)方法。根(gen)據(ju)信(xin)息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口按‘OK“鍵(jian)鍵(jian)或(huo)其(qi)它(ta)鍵(jian)。然(ran)後(hou)針對(dui)錯誤采取必要的措施(shi)。

                  蘇州(zhou)勒(le)豐(feng)精(jing)密儀(yi)器有限公(gong)司(si)(德日維修部)是專業從事(shi)日本三(san)豐(feng)、德國(guo)馬(ma)爾(er)等品牌(pai)量(liang)具(ju)、量(liang)儀(yi)的專業服(fu)務中(zhong)心(xin)。公(gong)司(si)技(ji)術(shu)力(li)量雄(xiong)厚,多名(ming)工程(cheng)師(shi)都(dou)是來自世界*的(de)量(liang)具生產(chan)企(qi)業,配(pei)件(jian)采用*,計(ji)量(liang)試驗(yan)室(shi)儀(yi)器都是(shi)進(jin)口(kou)測量(liang)儀(yi)器,為(wei)客戶解決維修後(hou)精度(du)不良的煩(fan)惱,品(pin)質(zhi)服(fu)務由(you)計(ji)量(liang)質(zhi)量(liang)檢測(ce)部門支持並(bing)出(chu)具(ju)相(xiang)關(guan)維(wei)修產(chan)品(pin)的(de)檢測(ce)報告(gao),並(bing)與(yu)“Mitutoyo” “Mahr”總(zong)代理(li)建立(li)有長(chang)期(qi)穩定(ding)的合作(zuo)關系(xi)。是大陸地(di)區*的(de)量具量儀維修服(fu)務商之壹。
                  專業維修:卡尺、高度(du)尺、千分(fen)表(biao)、百(bai)分表(biao)、千分(fen)尺、內外徑(jing)量表(biao)、測(ce)厚規,粗糙度(du)儀(yi),2D測高儀,工具(ju)顯(xian)微(wei)鏡(jing)等。
          服(fu)務承(cheng)諾: 提供免(mian)費上門取件(jian)  提供免(mian)費檢測(ce)故障(zhang)   提供2日內快修服(fu)務
          質(zhi)量(liang)保(bao)證(zheng): 維修產(chan)品(pin)精(jing)度(du)符合國(guo)家精(jing)度(du)標(biao)準
          保修期(qi)限: 非人為(wei)損(sun)壞,同(tong)類故(gu)障保修3個(ge)月
          日本三(san)豐(feng)粗(cu)糙度(du)儀(yi)常見(jian)問題(ti)排除(chu)法

          如(ru)果(guo)觸(chu)摸(mo)屏上出現壹條(tiao)錯誤信息(xi),查找如(ru)下列表(biao),識(shi)別錯誤(wu)尋求(qiu)合適(shi)的處(chu)理(li)方法。根(gen)據(ju)信(xin)息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口按‘OK“鍵(jian)鍵(jian)或(huo)其(qi)它(ta)鍵(jian)。然(ran)後(hou)針對(dui)錯誤采取必要的措施(shi)。

          特征/錯(cuo)誤(wu)信(xin)息可能(neng)存在的原(yuan)因處理方法

          電(dian)池不能(neng)充電●SJ-400用交流(liu)適(shi)配(pei)器連接電(dian)流(liu)時(shi)忘了關(guan)掉(diao)。

          電(dian)池(chi)開(kai)關(guan)被關掉(diao)。

          內置電(dian)池出現損(sun)壞了變(bian)質(zhi)

          內置電(dian)池過度(du)放(fang)電。打(da)開(kai)SJ-400,檢果(guo)電池(chi)圖(tu)標以(yi)確保(bao)顯(xian)示圖(tu)標指(zhi)明(ming)“Be charged在(zai)充電

          打(da)開(kai)電(dian)池開(kai)關(guan)

          用新的電池代替(ti)舊的。

          充電。

          不能(neng)運(yun)行(xing)自動睡眠●RS-232C交(jiao)流(liu)還(hai)在(zai)運(yun)行。

          執(zhi)行(xing)統(tong)計(ji)過程(cheng)。

          交(jiao)流(liu)適(shi)配(pei)器還在(zai)連接。

          自動睡眠功能設(she)定(ding)為(wei)OFF。沒(mei)問(wen)題(ti)。在RS-232C交(jiao)流(liu)和(he)統(tong)計(ji)過程(cheng)期(qi)間(jian)自動睡眠是無效的。按“POWER”鍵(jian)關(guan)掉(diao)電(dian)源就可以(yi)了。

          觸(chu)摸(mo)屏顯(xian)示不清晰對(dui)比度(du)調整(zheng)不適(shi)當。打(da)開(kai)顯(xian)示器裝置後(hou)面的(de)對(dui)比度(du)控(kong)制按鈕(niu),適(shi)當調整(zheng)對(dui)比度(du)。

          按鍵(jian)或(huo)觸(chu)摸(mo)屏不能(neng)使(shi)用●RS-232模式還在運(yun)行(xing)

          鍵(jian)的(de)屏(ping)蔽產(chan)生作(zuo)用。關(guan)掉(diao)RS-232C開(kai)關(guan)。

          關(guan)掉(diao)鍵(jian)屏蔽開(kai)關(guan)。

          存儲器錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):在(zai)內部存儲器中(zhong)開(kai)機自檢錯(cuo)誤。妳(ni)的(de)SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          存儲器錯誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):內部存儲器中(zhong)內部存儲數據(ju)領(ling)域(yu)錯(cuo)誤(wu)妳的SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          系(xi)統(tong)錯(cuo)誤1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):在(zai)輸入信(xin)號(hao)線(xian)路中(zhong)自檢錯(cuo)誤。妳(ni)的(de)SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          SPC錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):帶(dai)SPC裝置輸出SPC數(shu)據(ju)交(jiao)流(liu)錯(cuo)誤(wu)適(shi)當的重新連接SPC連接線(xian)。打(da)開(kai)電(dian)源進入(ru)數據(ju)處(chu)理器。

          打(da)印(yin)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):打(da)印(yin)機沒有紙(zhi),不能(neng)接(jie)收(shou)打(da)印(yin)輸出要求(qiu)增(zeng)加紙張,再(zai)按壹次(ci)PRINT

          打(da)印(yin)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):打(da)印(yin)機的機頭出現錯(cuo)誤(wu)增(zeng)加紙張,轉動拉(la)桿。

          打(da)印(yin)錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):自動打(da)印(yin)機如果電池(chi)剩(sheng)余(yu)電量(liang)不到(dao)40—20%,充電。

          關(guan)閉(bi)電(dian)源,等幾(ji)秒。如(ru)果(guo)電(dian)池(chi)剩余(yu)電量超過60%--40%,打(da)開(kai)電(dian)源。再(zai)壹次(ci)打(da)印(yin)。如(ru)果(guo)問(wen)題(ti)持續,

          妳的SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          存儲卡錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):當卡被寫保護(hu)時(shi),執(zhi)行(xing)存儲卡的(de)寫,格(ge)式或(huo)刪(shan)除(chu)要求(qiu)從(cong)插(cha)槽(cao)中(zhong)重新移走(zou)存儲卡,取(qu)消(xiao)寫保護(hu),

          存儲卡錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):存儲卡保(bao)存的數據(ju)超(chao)出存儲容量。插入壹個(ge)新的存儲卡並(bing)格(ge)式化(hua)。實行(xing)新的保存操(cao)作(zuo)

          存儲卡錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):當讀取(qu)存儲卡時(shi),發生轉存錯誤。確保(bao)存儲卡牢(lao)固(gu)地(di)插在(zai)插槽上,如果沒有,重(zhong)新插好(hao)。

          存儲卡錯(cuo)誤(wu)4錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):存儲卡沒(mei)有被格(ge)式化(hua),如(ru)果需要權(quan)限讀、取(qu),可能(neng)出現錯(cuo)誤(wu)格(ge)式化(hua)存儲卡。

          存儲卡錯(cuo)誤(wu)5錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):在(zai)存取時(shi),插(cha)槽(cao)沒(mei)有卡。在(zai)插(cha)槽(cao)中(zhong)插入(ru)壹個(ge)卡,如(ru)果(guo)是(shi)新的,格(ge)式化(hua)它(ta)。

          LCD顯(xian)示器什麽(me)都(dou)沒(mei)有對(dui)比度(du)沒(mei)有調整(zheng)好(hao)。

          電(dian)源保持(chi)關閉(bi)狀(zhuang)態。當從前面(mian)查(zha)看時(shi),反(fan)方向旋(xuan)轉對(dui)比度(du)調整(zheng)按鈕(niu),打(da)開(kai)電(dian)源。其次(ci),調整(zheng)LCD對(dui)比度(du)。

          驅(qu)動錯(cuo)誤1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):驅(qu)動/探(tan)測(ce)器裝置

          在(zai)具體的(de)時(shi)間(jian)段(duan)內,初(chu)始(shi)的(de)範圍(wei)不能(neng)檢測(ce)或(huo)執(zhi)行(xing)正確的(de)連接驅(qu)動/探(tan)測(ce)器裝置和(he)顯(xian)示器裝置。如(ru)果問(wen)題(ti)持續存在,妳的SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          驅(qu)動錯(cuo)誤3錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):沒(mei)有正確連接驅(qu)動/探(tan)測(ce)器裝置正確的(de)連接驅(qu)動/探(tan)測(ce)器裝置和(he)顯(xian)示器裝置。如(ru)果問(wen)題(ti)持續存在,妳的SJ-400代理(li)商或(huo)zui近的(de)MITUTOYO銷售(shou)辦(ban)事(shi)處。

          限制探(tan)測(ce)錯誤位置(zhi):驅(qu)動/探(tan)測(ce)器裝置

          從(cong)在驅(qu)動範圍(wei)內測量(liang)進行壹半,探測器裝置滑(hua)行全(quan)部要求(qiu)測(ce)量(liang)長(chang)度(du)前,探(tan)測(ce)範圍(wei)末(mo)端(duan)已經(jing)探測(ce)到(dao)。在(zai)第3頁(ye)面按“Move the measurement start position”圖(tu)標(biao)或(huo)“Return it to the origin”圖(tu)標(biao),進(jin)入測量開(kai)始(shi)位置(zhi)驅(qu)動範圍(wei)的(de)開(kai)始(shi)以(yi)便(bian)能(neng)達(da)到(dao)測量長度(du)。

          探(tan)測器錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):探(tan)測器

          開(kai)始(shi)測量(liang)前,就(jiu)工件(jian)而言(yan),探(tan)測(ce)器不在(zai)探(tan)測(ce)範圍(wei)內。在工件(jian)上正確地(di)設定(ding)探測器,探測(ce)器正確地(di)依附(fu)在

          探測器裝置。

          探(tan)測器錯誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):探(tan)測器

          在測(ce)量(liang)時(shi),就(jiu)工件(jian)而言(yan),探(tan)測(ce)器超過探(tan)測(ce)範圍(wei)。在(zai)工件(jian)上正確地(di)設定(ding)探測器,探測(ce)器正確地(di)依附(fu)在

          探測器裝置。

          探(tan)測器錯誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):探(tan)測器

          探測(ce)器不當地(di)安裝在在(zai)探測(ce)器裝置上。探測器正確地(di)依附(fu)在探測器裝置。

          超(chao)出範圍(wei)錯(cuo)誤顯(xian)示“000”錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):測(ce)量範圍(wei)

          已探測數值(zhi)超出(chu)當前測(ce)量(liang)範圍(wei)。使(shi)用壹個(ge)大的測量(liang)範圍(wei)。

          零(ling)位轉換(huan)錯誤(wu)錯(cuo)誤位置(zhi):探(tan)針

          通(tong)過提供的零(ling)位轉換(huan)數值(zhi),探(tan)針位置(zhi)不在(zai)的(de)範圍(wei)。調整(zheng)探(tan)針以(yi)使(shi)它(ta)的(de)位置(zhi)能(neng)在的範圍(wei)內。

          DAT錯(cuo)誤(wu)

          數(shu)據(ju)調整(zheng)平臺錯誤(wu)錯(cuo)誤位置(zhi):傾(qing)斜調整(zheng)

          在(zai)DAT測(ce)量(liang)期(qi)間(jian),不能(neng)進(jin)行(xing)運算(suan)。在(zai)探測(ce)器和工件(jian)之間(jian)的(de)傾(qing)斜角(jiao)度(du)太(tai)大。探測器的傾(qing)斜(xie)要進行(xing)精(jing)細調整(zheng)。

          Ra…………um錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):運(yun)算裝置

          發生參數運(yun)算(suan)錯誤。

          發生R面(mian)補(bu)償(chang)運(yun)算錯誤。修改(gai)測量條(tiao)件(jian)後再(zai)測(ce)量(liang)壹次(ci)。

          如(ru)果(guo)R面(mian)補(bu)償(chang)已經(jing)設定(ding)為(wei)ON,在(zai)啟(qi)動R面(mian)補(bu)償(chang)後(hou)再(zai)測(ce)量(liang)壹次(ci)。

          ☆25.65um錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):運(yun)算裝置

          在(zai)測量(liang)期間(jian),檢測(ce)到超(chao)出(chu)範圍(wei)。在(zai)數據(ju)前面(mian)將(jiang)粘(zhan)上壹顆“☆“使(shi)用壹個(ge)大的測量(liang)範圍(wei)。

          Rz#5.68um錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):運(yun)算裝置

          計(ji)算(suan)Rz峰(feng)谷(gu)或(huo)峰(feng)底的(de)數據(ju)小於的數據(ju)。

          “#“顯(xian)示在(zai)運算結(jie)果(guo)前。 

          Ra****m錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):運(yun)算裝置

          如(ru)果沒(mei)有獲(huo)得運(yun)算(suan)結(jie)果(guo)。 

          Rz L-P錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):運(yun)算裝置

          沒(mei)有足(zu)夠的(de)峰谷(gu)或(huo)峰(feng)底數(shu)據(ju)運(yun)算Rz或(huo)Sm。在(zai)運(yun)算(suan)結(jie)果(guo)前將(jiang)顯(xian)示L-P。 

          校準(zhun)錯誤(wu)錯(cuo)誤(wu)位置(zhi):校準(zhun)

          校準(zhun)測量(liang)結(jie)果(guo)超(chao)出可能(neng)範圍(wei)。

           針(zhen)對(dui)觸摸(mo)屏上顯(xian)示的(de)數據(ju),檢查(zha)參考標準(zhun)塊粗糙度(du)數(shu)值。確保(bao)探測(ce)器在參考標準(zhun)塊上正確地(di)設定(ding)。

          條件(jian)錯誤(wu)1在(zai)評(ping)價標(biao)準測(ce)量(liang)條(tiao)件(jian)1/3和(he)2/3)和(he)測(ce)量(liang)數據(ju)之(zhi)間(jian)關(guan)系(xi)不相(xiang)稱(cheng)檢查(zha)評價標(biao)準。

          條件(jian)錯誤(wu)2在(zai)評(ping)價標(biao)準測(ce)量(liang)條(tiao)件(jian)1/3和(he)2/3)和(he)測(ce)量(liang)數據(ju)之(zhi)間(jian)關(guan)系(xi)不相(xiang)稱(cheng)檢查(zha)測量(liang)條(tiao)件(jian)。

          條件(jian)錯誤(wu)3不能(neng)計(ji)算(suan)R面(mian)補(bu)償(chang)測(ce)量數據(ju)不能(neng)實行(xing)R面(mian)補(bu)償(chang)。關(guan)掉(diao)R面(mian)補(bu)償(chang)。

          不能(neng)設(she)定(ding)Ry表(biao)面(mian)粗糙標(biao)準(zhun)已經(jing)設定(ding)為(wei)JIS01ISO97ANSI 或(huo)VDA。標(biao)準(zhun)(JIS2001ISO1997)修訂時(shi),參數符號(hao)的(de)含(han)義也修改(gai)了。舊的標(biao)準版(ban)本(ben)的(de)Ry改(gai)為(wei)Rz,避(bi)免(mian)使(shi)用Ry。因此(ci),根據(ju)標(biao)準(JIS2001ISO1997),儀(yi)器不能(neng)設(she)定(ding)Ry或(huo)Py參數。

          如(ru)果(guo)有需(xu)要Ry,那(na)麽(me)把(ba)標準(zhun)改(gai)回(hui)“JIS‘82”或(huo)“JIS‘94”任(ren)壹版(ban)本才開(kai)始(shi)實行(xing)測(ce)量(liang)。

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            請(qing)輸入計(ji)算(suan)結(jie)果(guo)(填(tian)寫阿拉(la)伯數(shu)字(zi)),如(ru):三(san)加(jia)四(si)=7

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