上海(hai)三豐粗糙(cao)度(du)儀(yi)粗糙度(du)儀(yi) 信(xin)號(hao)接收(shou)端口(kou)損壞維(wei)修(xiu)修(xiu)理(li)

• 更新日(ri)期：2025-09-15

如(ru)果(guo)觸(chu)摸屏(ping)上(shang)出現(xian)壹(yi)條(tiao)錯(cuo)誤(wu)信(xin)息，查(zha)找(zhao)如(ru)下(xia)列表，識(shi)別錯(cuo)誤(wu)尋求(qiu)合適(shi)的處理(li)方法(fa)。根據信(xin)息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口按(an)‘OK“鍵鍵(jian)或(huo)其(qi)它(ta)鍵。然後針(zhen)對錯(cuo)誤(wu)采取(qu)必(bi)要(yao)的措施(shi)。

訂購留言(yan)

      蘇(su)州(zhou)勒豐(feng)精(jing)密儀(yi)器有限(xian)公司(si)（德(de)日(ri)維(wei)修(xiu)部(bu)）是專業(ye)從(cong)事(shi)日(ri)本三豐、德國馬爾等品(pin)牌量具、量儀(yi)的專業(ye)服(fu)務中心(xin)。公司(si)技(ji)術(shu)力(li)量雄(xiong)厚(hou)，多名(ming)工程(cheng)師都(dou)是來自世(shi)界*的量具生產企(qi)業(ye)，配件采用*，計(ji)量試驗(yan)室儀(yi)器都是(shi)進(jin)口(kou)測(ce)量(liang)儀(yi)器，為客(ke)戶解決(jue)維(wei)修(xiu)後精(jing)度不(bu)良的煩惱，品質(zhi)服(fu)務由(you)計(ji)量(liang)質(zhi)量檢(jian)測(ce)部(bu)門(men)支(zhi)持並(bing)出具相(xiang)關(guan)維(wei)修(xiu)產(chan)品的檢(jian)測(ce)報(bao)告(gao)，並(bing)與“Mitutoyo” “Mahr”總(zong)代(dai)理(li)建立有長期(qi)穩(wen)定的合作(zuo)關(guan)系。是(shi)大陸(lu)地(di)區*的量具量儀(yi)維(wei)修(xiu)服(fu)務商之(zhi)壹。
     專(zhuan)業(ye)維(wei)修(xiu)：卡(ka)尺、高(gao)度尺、千(qian)分表、百(bai)分(fen)表、千分尺、內(nei)外(wai)徑(jing)量(liang)表、測(ce)厚(hou)規，粗(cu)糙(cao)度儀(yi)，2D測(ce)高(gao)儀(yi)，工具顯微(wei)鏡(jing)等。
服(fu)務承(cheng)諾(nuo)： 提(ti)供(gong)免費(fei)上門(men)取件  提(ti)供(gong)免費(fei)檢(jian)測(ce)故(gu)障   提(ti)供(gong)2日(ri)內快(kuai)修(xiu)服(fu)務
質(zhi)量(liang)保證： 維(wei)修(xiu)產(chan)品精度符(fu)合國家精度標準
保修(xiu)期(qi)限(xian)： 非(fei)人為損壞，同類(lei)故(gu)障保修(xiu)3個(ge)月
日(ri)本三豐粗糙(cao)度(du)儀(yi)常見問題排(pai)除法(fa)

如(ru)果(guo)觸(chu)摸屏(ping)上(shang)出現(xian)壹(yi)條(tiao)錯(cuo)誤(wu)信(xin)息，查(zha)找(zhao)如(ru)下(xia)列表，識(shi)別錯(cuo)誤(wu)尋求(qiu)合適(shi)的處理(li)方法(fa)。根據信(xin)息或(huo)關(guan)閉(bi)窗口按(an)‘OK“鍵(jian)鍵(jian)或(huo)其(qi)它(ta)鍵。然後針(zhen)對錯(cuo)誤(wu)采取(qu)必(bi)要(yao)的措施(shi)。

特征(zheng)/錯(cuo)誤(wu)信(xin)息可(ke)能(neng)存在的原因處(chu)理(li)方法(fa)

電池(chi)不(bu)能(neng)充(chong)電●SJ-400用交(jiao)流適(shi)配器(qi)連(lian)接電流時忘了(le)關(guan)掉。

●電池(chi)開關(guan)被關(guan)掉。

●內(nei)置(zhi)電池(chi)出現(xian)損壞了（變質）。

●內(nei)置(zhi)電池(chi)過度放(fang)電。●打開SJ-400，檢(jian)果(guo)電池(chi)圖(tu)標以(yi)確保顯示圖標指明(ming)“Be charged在(zai)充(chong)電”

●打開電池(chi)開關(guan)

●用新(xin)的電池(chi)代(dai)替(ti)舊的。

●充(chong)電。

不(bu)能(neng)運行自動(dong)睡眠●RS-232C交(jiao)流還在(zai)運行。

●執(zhi)行(xing)統(tong)計過程(cheng)。

●交(jiao)流適(shi)配器(qi)還在連(lian)接。

●自動(dong)睡眠功能設(she)定為OFF。沒(mei)問題。在RS-232C交(jiao)流和統(tong)計過程(cheng)期間自動(dong)睡眠是(shi)無(wu)效的。按“POWER”鍵(jian)關(guan)掉電源(yuan)就(jiu)可(ke)以(yi)了。

觸(chu)摸屏(ping)顯示不清(qing)晰對比度調整(zheng)不(bu)適(shi)當。打開顯示器裝(zhuang)置(zhi)後面(mian)的對比度控(kong)制(zhi)按鈕，適(shi)當調(tiao)整(zheng)對(dui)比度。

按鍵(jian)或觸(chu)摸屏(ping)不(bu)能(neng)使用●RS-232模式還在(zai)運行

●鍵(jian)的屏蔽(bi)產(chan)生作(zuo)用。●關(guan)掉RS-232C開關(guan)。

●關(guan)掉鍵(jian)屏(ping)蔽開關(guan)。

存儲(chu)器(qi)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：在(zai)內(nei)部(bu)存(cun)儲(chu)器中開機自檢(jian)錯誤(wu)。妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

存儲器錯誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：內(nei)部(bu)存(cun)儲(chu)器(qi)中內(nei)部(bu)存儲數據(ju)領(ling)域錯誤(wu)妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

系統(tong)錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：在(zai)輸入信(xin)號(hao)線路(lu)中自檢(jian)錯誤(wu)。妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

SPC錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：帶SPC裝(zhuang)置(zhi)輸出SPC數據(ju)交(jiao)流錯誤(wu)適(shi)當的重新(xin)連(lian)接SPC連(lian)接線。打開電源(yuan)進(jin)入(ru)數據(ju)處(chu)理(li)器。

打印(yin)錯(cuo)誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：打印(yin)機(ji)沒(mei)有紙(zhi)，不(bu)能(neng)接收(shou)打印(yin)輸出要(yao)求(qiu)增加(jia)紙張(zhang)，再(zai)按壹(yi)次PRINT

打印(yin)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：打印(yin)機(ji)的機頭出現(xian)錯(cuo)誤(wu)增加(jia)紙張(zhang)，轉(zhuan)動拉(la)桿(gan)。

打印(yin)錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：自動(dong)打印(yin)機(ji)如(ru)果(guo)電池(chi)剩(sheng)余電量(liang)不(bu)到(dao)40—20%，充(chong)電。

關(guan)閉(bi)電源(yuan)，等幾(ji)秒(miao)。如(ru)果(guo)電池(chi)剩(sheng)余電量(liang)超(chao)過60%--40%，打開電源(yuan)。再(zai)壹次(ci)打印(yin)。如(ru)果(guo)問題持續(xu)，

妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

存儲卡錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：當(dang)卡(ka)被(bei)寫(xie)保護時(shi)，執行(xing)存(cun)儲(chu)卡(ka)的寫，格式或刪(shan)除(chu)要(yao)求(qiu)從(cong)插(cha)槽中重(zhong)新(xin)移走存儲(chu)卡(ka)，取(qu)消寫(xie)保護，

存(cun)儲卡(ka)錯(cuo)誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：存(cun)儲(chu)卡(ka)保存的數據(ju)超(chao)出存儲容(rong)量。插入(ru)壹(yi)個新的存儲(chu)卡(ka)並(bing)格式化。實(shi)行新的保存操(cao)作

存(cun)儲(chu)卡(ka)錯(cuo)誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：當(dang)讀(du)取(qu)存(cun)儲(chu)卡時，發生(sheng)轉(zhuan)存錯(cuo)誤(wu)。確保存儲(chu)卡牢(lao)固(gu)地(di)插(cha)在(zai)插(cha)槽上(shang)，如(ru)果(guo)沒(mei)有，重(zhong)新(xin)插(cha)好(hao)。

存儲(chu)卡錯(cuo)誤(wu)4錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：存(cun)儲(chu)卡(ka)沒(mei)有被(bei)格式化，如(ru)果(guo)需(xu)要(yao)權(quan)限(xian)讀、取，可(ke)能(neng)出現(xian)錯(cuo)誤(wu)格式化存(cun)儲卡。

存(cun)儲卡(ka)錯(cuo)誤(wu)5錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：在(zai)存(cun)取(qu)時(shi)，插(cha)槽沒(mei)有卡(ka)。在(zai)插(cha)槽中插(cha)入(ru)壹個卡，如(ru)果(guo)是(shi)新(xin)的，格式化它(ta)。

LCD顯示器什(shen)麽(me)都沒(mei)有●對(dui)比度沒(mei)有調(tiao)整(zheng)好(hao)。

●電源(yuan)保持關(guan)閉(bi)狀態。當(dang)從前(qian)面查(zha)看(kan)時(shi)，反方向(xiang)旋(xuan)轉(zhuan)對比度調整(zheng)按(an)鈕，打開電源(yuan)。其(qi)次(ci)，調整(zheng)LCD對(dui)比度。

驅動(dong)錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：驅(qu)動(dong)/探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)

在(zai)具體的時間段內，初始(shi)的範圍(wei)不(bu)能檢(jian)測(ce)或(huo)執行正確的連(lian)接驅(qu)動(dong)/探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)和顯示器裝(zhuang)置(zhi)。如(ru)果(guo)問題持續(xu)存(cun)在，妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

驅動錯誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：沒(mei)有正確連(lian)接驅(qu)動(dong)/探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)正確的連(lian)接驅(qu)動(dong)/探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)和顯示器裝(zhuang)置(zhi)。如(ru)果(guo)問題持續(xu)存(cun)在，妳(ni)的SJ-400代(dai)理(li)商或(huo)zui近的MITUTOYO銷(xiao)售(shou)辦(ban)事處。

限(xian)制(zhi)探測(ce)錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：驅(qu)動(dong)/探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)

從(cong)在(zai)驅(qu)動(dong)範(fan)圍內測(ce)量(liang)進行壹半(ban)，探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)滑(hua)行(xing)全(quan)部(bu)要(yao)求(qiu)測(ce)量(liang)長度(du)前(qian)，探測(ce)範(fan)圍末(mo)端已(yi)經探測(ce)到(dao)。在第3頁面按(an)“Move the measurement start position”圖(tu)標或“Return it to the origin”圖(tu)標，進入測(ce)量(liang)開始位(wei)置(zhi)（驅(qu)動(dong)範(fan)圍的開始）以(yi)便能(neng)達(da)到(dao)測(ce)量(liang)長度(du)。

探測(ce)器(qi)錯誤(wu)1錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：探測(ce)器(qi)

開始測(ce)量(liang)前(qian)，就(jiu)工件而言(yan)，探測(ce)器(qi)不在探測(ce)範(fan)圍內。在工件上正確地(di)設(she)定探測(ce)器(qi)，探測(ce)器(qi)正確地(di)依(yi)附(fu)在(zai)

探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)。

探測(ce)器(qi)錯誤(wu)2錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：探測(ce)器(qi)

在測(ce)量(liang)時，就(jiu)工件而言(yan)，探測(ce)器(qi)超過探測(ce)範(fan)圍。在工件上正確地(di)設(she)定探測(ce)器(qi)，探測(ce)器(qi)正確地(di)依(yi)附(fu)在(zai)

探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)。

探測(ce)器(qi)錯誤(wu)3錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：探測(ce)器(qi)

探測(ce)器(qi)不當地(di)安(an)裝(zhuang)在(zai)在(zai)探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)上(shang)。探測(ce)器(qi)正確地(di)依(yi)附(fu)在(zai)探測(ce)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)。

超(chao)出範圍錯(cuo)誤(wu)顯示“000”錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：測(ce)量(liang)範圍

已探測(ce)數值(zhi)超(chao)出當前(qian)測(ce)量(liang)範圍。使用壹(yi)個大的測(ce)量(liang)範圍。

零位(wei)轉(zhuan)換(huan)錯(cuo)誤(wu)錯誤(wu)位(wei)置(zhi)：探針

通(tong)過提(ti)供(gong)的零位(wei)轉(zhuan)換(huan)數值(zhi)，探針位(wei)置(zhi)不(bu)在(zai)的範圍(wei)。調(tiao)整(zheng)探針以(yi)使它(ta)的位(wei)置(zhi)能(neng)在(zai)的範圍(wei)內(nei)。

DAT錯(cuo)誤(wu)

數據(ju)調(tiao)整(zheng)平臺(tai)錯誤(wu)錯誤(wu)位(wei)置(zhi)：傾(qing)斜(xie)調整(zheng)

在(zai)DAT測(ce)量(liang)期間，不能進行(xing)運算(suan)。在(zai)探測(ce)器(qi)和工件之(zhi)間的傾斜(xie)角度(du)太(tai)大。探測(ce)器(qi)的傾斜(xie)要(yao)進(jin)行(xing)精(jing)細(xi)調(tiao)整(zheng)。

Ra…………um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：運算(suan)裝(zhuang)置(zhi)

●發生(sheng)參數運算(suan)錯(cuo)誤(wu)。

●發生(sheng)R面(mian)補(bu)償運算(suan)錯(cuo)誤(wu)。●修(xiu)改(gai)測(ce)量(liang)條(tiao)件後再(zai)測(ce)量(liang)壹次。

●如(ru)果(guo)R面(mian)補(bu)償已經設(she)定為ON，在(zai)啟(qi)動R面(mian)補(bu)償後再(zai)測(ce)量(liang)壹次。

☆25.65um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：運算(suan)裝(zhuang)置(zhi)

在(zai)測(ce)量(liang)期間，檢(jian)測(ce)到(dao)超出範圍。在(zai)數據(ju)前(qian)面將(jiang)粘上壹(yi)顆“☆“使(shi)用壹(yi)個大的測(ce)量(liang)範圍。

Rz#5.68um錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：運算(suan)裝(zhuang)置(zhi)

計(ji)算(suan)Rz峰(feng)谷或峰(feng)底(di)的數據(ju)小(xiao)於(yu)的數據(ju)。

“#“顯示在運算(suan)結果(guo)前(qian)。 

Ra****m錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：運算(suan)裝(zhuang)置(zhi)

如(ru)果(guo)沒(mei)有獲(huo)得(de)運算(suan)結果(guo)。 

Rz L-P錯(cuo)誤(wu)位(wei)置(zhi)：運算(suan)裝(zhuang)置(zhi)

沒(mei)有足(zu)夠(gou)的峰谷或峰(feng)底(di)數據(ju)運算(suan)Rz或(huo)Sm。在(zai)運算(suan)結果(guo)前(qian)將顯示L-P。 

校準錯(cuo)誤(wu)錯誤(wu)位(wei)置(zhi)：校準

校準測(ce)量(liang)結果(guo)超(chao)出可(ke)能(neng)範圍。

 針對(dui)觸(chu)摸屏(ping)上(shang)顯示的數據(ju)，檢(jian)查參考(kao)標準塊粗(cu)糙(cao)度數值(zhi)。確(que)保探測(ce)器(qi)在參考(kao)標準塊上(shang)正確地(di)設(she)定。

條(tiao)件錯誤(wu)1在(zai)評(ping)價(jia)標準（測(ce)量(liang)條(tiao)件1/3和2/3）和測(ce)量(liang)數據(ju)之(zhi)間關(guan)系不(bu)相(xiang)稱(cheng)檢(jian)查評(ping)價(jia)標準。

條(tiao)件錯誤(wu)2在(zai)評(ping)價(jia)標準（測(ce)量(liang)條(tiao)件1/3和2/3）和測(ce)量(liang)數據(ju)之(zhi)間關(guan)系不(bu)相(xiang)稱(cheng)檢(jian)查測(ce)量(liang)條(tiao)件。

條(tiao)件錯誤(wu)3不(bu)能(neng)計(ji)算(suan)R面(mian)補(bu)償測(ce)量(liang)數據(ju)不(bu)能(neng)實(shi)行R面(mian)補(bu)償。關(guan)掉R面(mian)補(bu)償。

不能設(she)定Ry表面粗糙(cao)標準已(yi)經設(she)定為JIS01，ISO97，ANSI 或(huo)VDA。標準（JIS：2001，ISO：1997）修(xiu)訂時，參數符(fu)號(hao)的含義(yi)也修(xiu)改(gai)了。舊的標準版(ban)本的Ry改(gai)為(wei)Rz，避免使(shi)用Ry。因此(ci)，根據標準（JIS：2001，ISO：1997），儀(yi)器不能(neng)設(she)定Ry或(huo)Py參數。

如(ru)果(guo)有需(xu)要(yao)Ry，那麽(me)把標準改(gai)回“JIS‘82”或(huo)“JIS‘94”任(ren)壹(yi)版本才(cai)開始實(shi)行測(ce)量(liang)。