汙(wu)點規(gui),比(bi)對(dui)卡,A4點規(gui)蘇州(zhou)

• 更(geng)新(xin)日期(qi)：2025-09-14

電子廠品(pin)檢用(yong)點規(gui)線規(gui)圖，各(ge)種尺(chi)寸大小(xiao)，汙點(dian)卡、點規(gui)主要(yao)用(yong)於(yu)品(pin)管部(bu)門判(pan)定(ding)汙點(dian)，是用來測量、對比(bi)手(shou)機外(wai)殼、LENS、DISPLAY等部(bu)件的點、劃痕(hen)的面積(ji)、直(zhi)徑(jing)、寬度(du)、長(chang)度(du)是(shi)否(fou)超過基準(zhun)，適用(yong)在(zai)LCD,PCB板(ban),光電，通信(xin)行業(ye)等.

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       點(dian)規(gui)通常(chang)應用(yong)在電子行業(ye)中產品(pin)的外觀檢查(zha)方面(mian)。 電子廠品(pin)檢用(yong)點規(gui)線規(gui)圖，方便(bian)品(pin)檢員(yuan)規(gui)範統壹(yi)標(biao)準(zhun)。各(ge)種尺(chi)寸大小(xiao)，汙點(dian)卡、點規(gui)主要(yao)用(yong)於(yu)品(pin)管部(bu)門判(pan)定(ding)汙點(dian)，是用來測量、對比(bi)手(shou)機外(wai)殼、DISPLAY等部(bu)件的點、劃痕(hen)的面積(ji)、直(zhi)徑(jing)、寬度(du)、長(chang)度(du)是(shi)否(fou)超過基準(zhun)，適用(yong)在(zai)LCD,PCB板(ban),光電，通信(xin)行業(ye)等.通(tong)過外觀等級(ji)的，采用點(dian)規(gui)線規(gui)卡客(ke)觀的進(jin)行定(ding)量測定(ding)，從(cong)而統壹(yi)全(quan)公司產品(pin)的外觀判定(ding)標(biao)準(zhun)，縮小零部(bu)件接收(shou)部(bu)門(men)和供(gong)應商之(zhi)間的判定(ding)誤差(cha)，可以正確的向(xiang)供(gong)應商和(he)接收(shou)部(bu)門(men)傳達(da)所(suo)要(yao)求(qiu)的產品(pin)的外觀，而不(bu)需要(yao)制作(zuo)限(xian)度(du)樣(yang)品(pin)，不需(xu)要(yao)外(wai)觀的等級(ji)！ 尺(chi)寸:各(ge)種大(da)小， 點(dian)：從(cong)0.1到(dao)3.00線：0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0面(mian)：0.08到(dao)1.5點規(gui)的作(zuo)用(yong) 以確定(ding)壹個(ge)不規(gui)則(ze)的點或(huo)線性(xing)刮(gua)傷(shang)可不(bu)可以通過檢驗(yan)要(yao)求(qiu) 點(dian)規(gui)的組(zu)成(cheng) 點(dian)規(gui)的大小通(tong)常為A4紙(zhi)的大小，它(ta)是(shi)由點(dian)區(qu)、25%灰(hui)界(jie)面(mian)和(he)刻(ke)度(du)線組(zu)成(cheng)。