專(zhuan)業(ye)定(ding)制汙(wu)點測(ce)量(liang)點線規(gui)菲(fei)林卡LF-16

• 更(geng)新日(ri)期(qi)：2025-09-16

主(zhu)要(yao)用於(yu)主要(yao)用於(yu)品管(guan)部門判(pan)定(ding)汙(wu)點、表面(mian)劃痕(hen)。是(shi)用來測(ce)量(liang)、對比(bi)手(shou)機外殼(ke)、LENS、DISPLAY等(deng)部(bu)件的(de)點、劃痕(hen)的(de)面(mian)積、直徑、寬度(du)、長度(du)是(shi)否(fou)超(chao)過(guo)基(ji)準。精度(du)高Z小(xiao)線寬0.01mm，點大小(xiao)0.1mm。適(shi)用在(zai)LCD,PCB板(ban),光(guang)電(dian)，通(tong)信行(xing)業(ye)等。本(ben)產品*之處,工藝(yi)精細，不(bu)易脫色(se),耐(nai)用,點線圓(yuan)面(mian)清晰(xi).（專(zhuan)業(ye)定(ding)制汙(wu)點測(ce)量(liang)點線規(gui)菲(fei)林卡LF-16）

訂(ding)購(gou)留言(yan)

　　直(zhi)銷定(ding)制各(ge)式(shi)點規，LG標(biao)準(zhun)檢(jian)查(zha)表(biao)，SONY標(biao)準(zhun)檢(jian)查(zha)表(biao)，三星(xing)標(biao)準(zhun)檢(jian)查(zha)表(biao)，HP(惠(hui)普(pu))標(biao)準(zhun)檢(jian)查(zha)表(biao)，Hisense(海信)標(biao)準(zhun)檢(jian)查(zha)表(biao)，及各類點規模板(ban)定(ding)制。現(xian)貨(huo)批(pi)發A4點規，汙(wu)點規，點線規(gui)，菲(fei)林尺(chi)，缺(que)點規，灰(hui)階卡，面(mian)積對比(bi)對(dui)卡，面(mian)積對比(bi)規(gui)，目測(ce)檢驗輔助圖(tu)片(pian)，NEC點規，汙(wu)點外觀(guan)對(dui)比(bi)片(pian)

　　產品特點：

　　主要(yao)用於(yu)主要(yao)用於(yu)品管(guan)部門判(pan)定(ding)汙(wu)點、表面(mian)劃痕(hen)。是(shi)用來測(ce)量(liang)、對比(bi)手(shou)機外殼(ke)、LENS、DISPLAY等(deng)部(bu)件的(de)點、劃痕(hen)的(de)面(mian)積、直徑、寬度(du)、長度(du)是(shi)否(fou)超(chao)過(guo)基(ji)準。精度(du)高zui小(xiao)線寬0.01mm，點大小(xiao)0.1mm。適(shi)用在(zai)LCD,PCB板(ban),光(guang)電(dian)，通(tong)信行(xing)業(ye)等。本(ben)產品*之處,工藝(yi)精細，不(bu)易脫色(se),耐(nai)用,點線圓(yuan)面(mian)清晰(xi).（專(zhuan)業(ye)定(ding)制汙(wu)點測(ce)量(liang)點線規(gui)菲(fei)林卡LF-16）

　　點規通(tong)常應用在(zai)電(dian)子(zi)行(xing)業(ye)中產品的(de)外觀(guan)檢(jian)查(zha)方(fang)面(mian)。

　　電(dian)子(zi)廠(chang)品檢用點規線(xian)規圖(tu)，方(fang)便(bian)品檢(jian)員規(gui)範(fan)統壹(yi)標(biao)準(zhun)。各(ge)種(zhong)尺(chi)寸(cun)大小(xiao)，汙(wu)點卡、點規主(zhu)要用於(yu)品管(guan)部門判(pan)定(ding)汙(wu)點，是(shi)用來測(ce)量(liang)、對比(bi)手(shou)機外殼(ke)、LENS、DISPLAY等(deng)部(bu)件的(de)點、劃痕(hen)的(de)面(mian)積、直徑、寬度(du)、長度(du)是(shi)否(fou)超(chao)過(guo)基(ji)準，適(shi)用在(zai)LCD,PCB板(ban),光(guang)電(dian)，通(tong)信行(xing)業(ye)等.通(tong)過(guo)外觀(guan)等(deng)級的(de)，采用點規線(xian)規卡客(ke)觀的(de)進行(xing)定(ding)量(liang)測(ce)定(ding)，從而(er)統壹(yi)全(quan)公(gong)司產品的(de)外觀(guan)判(pan)定(ding)標(biao)準(zhun)，縮(suo)小(xiao)零(ling)部件接收部門和供(gong)應商(shang)之間(jian)的(de)判(pan)定(ding)誤差(cha)，可(ke)以正確(que)的(de)向(xiang)供(gong)應商(shang)和接收部門傳達(da)所要求的(de)產品的(de)外觀(guan)，而(er)不(bu)需要制(zhi)作(zuo)限度(du)樣品，不(bu)需要外觀(guan)的(de)等(deng)級!（專(zhuan)業(ye)定(ding)制汙(wu)點測(ce)量(liang)點線規(gui)菲(fei)林卡LF-16）

　　尺(chi)寸(cun):各種(zhong)大小，

　　點：從0.01到要(yao)求

　　線：0.01,0.05,0.08到要(yao)求

　　面(mian)：0.03到3

　　點規的(de)作(zuo)用

　　以確(que)定(ding)壹個不(bu)規則的(de)點或線(xian)性刮(gua)傷(shang)可(ke)不(bu)可(ke)以通過檢驗要求

　　點規的(de)組(zu)成(cheng)

　　點規的(de)大(da)小(xiao)通(tong)常為(wei)A4紙(zhi)的(de)大(da)小(xiao)，它(ta)是(shi)由點區(qu)、25%灰(hui)界(jie)面(mian)和刻(ke)度(du)線組(zu)成(cheng)

　　點規的(de)使用方(fang)法(fa)

　　當遇(yu)到壹(yi)個不(bu)規則的(de)點，首先(xian)確(que)定(ding)它的(de)大(da)致(zhi)大(da)小在(zai)點規上找到差(cha)不(bu)多相同的(de)點，在確(que)定(ding)不(bu)規則點的(de)形狀(zhuang)，然(ran)後在(zai)剛(gang)才在(zai)點規上找到大(da)小(xiao)相似(si)點的(de)行(xing)中(zhong)，在找到形狀(zhuang)相(xiang)似的(de)。然(ran)後(hou)覆蓋(gai)上，若可(ke)以蓋(gai)住(zhu)，在(zai)看(kan)其(qi)大小(xiao)是(shi)否(fou)允(yun)許(xu)通(tong)過(guo)，若可(ke)以則通過，否(fou)則(ze)不(bu)可(ke)以通過

　　當無法確(que)認(ren)壹個線(xian)性(xing)刮傷(shang)可(ke)不(bu)可(ke)以通過時，將25%灰(hui)界(jie)面(mian)覆蓋(gai)在(zai)該(gai)線(xian)性(xing)刮傷上若不(bu)能看見(jian)且(qie)線(xian)性刮(gua)傷(shang)的(de)長(chang)度(du)小於(yu)規定(ding)長度(du)則可(ke)以通過，否(fou)則(ze)不(bu)可(ke)以通過。（）