掃描(miao)規 非(fei)標(biao)檢具(ju)

• 更新(xin)日期(qi)：2025-09-14

產(chan)品(pin)名(ming)稱： 掃(sao)描(miao)規 非(fei)標(biao)檢具(ju)
產(chan)品(pin)類(lei)別： 定做(zuo)檢具(ju)
產(chan)品(pin)備(bei)註： 此商(shang)品(pin)*，咨(zi)詢

訂(ding)購(gou)留(liu)言(yan)

掃(sao)描(miao)規 非(fei)標(biao)檢具(ju) ，目前生產(chan)中(zhong)孔位(wei)檢具(ju)只(zhi)能(neng)定性(xing)不(bu)能定量(liang)地(di)檢測(ce)孔位(wei)，用(yong)三坐(zuo)標(biao)計(ji)量(liang)周(zhou)期(qi)長(chang)、成(cheng)本(ben)高(gao)的(de)不(bu)足，提供了壹(yi)種(zhong)用(yong)於檢測(ce)孔位(wei)置(zhi)度的掃(sao)描(miao)規，主(zhu)要(yao)由(you)測(ce)頭(tou)、測(ce)桿(gan)、導向桿(gan)、百分(fen)表組成(cheng)，其(qi)特征在於所述百分(fen)表測(ce)頭(tou)位於所述導向桿(gan)中間(jian)孔內(nei)；所述測(ce)桿(gan)穿(chuan)過(guo)所述導向桿(gan)中間(jian)孔，並可沿孔作軸向運動(dong)，兩(liang)端分(fen)別與(yu)所述測(ce)頭(tou)和百分(fen)表相聯，與所述測(ce)頭(tou)接(jie)觸(chu)的(de)面為(wei)斜面；所述測(ce)頭(tou)為(wei)偏心輪式，通(tong)過(guo)銷軸安(an)裝在導向桿(gan)上，並可沿銷軸自(zi)由(you)旋(xuan)轉；所述測(ce)頭(tou)與測(ce)桿(gan)接(jie)觸(chu)的(de)面是以(yi)銷軸為(wei)運(yun)動(dong)軸心(xin)的偏心弧面，與所述測(ce)桿(gan)的斜面始終保持相切。
該掃(sao)描(miao)規能準(zhun)確、快速(su)地(di)讀(du)出孔相對於基(ji)準(zhun)位置(zhi)的(de)偏移(yi)量，測(ce)量(liang)孔位(wei)不(bu)僅讀(du)數方便(bian)，而(er)且(qie)可隨時根(gen)據(ju)其(qi)測(ce)量(liang)出的數據(ju)對(dui)機床(chuang)進(jin)行(xing)調整，保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)的(de)質量。可以方便(bian)測(ce)量(liang)被測(ce)工件小(xiao)孔的(de)位(wei)置(zhi)度，同時方便(bian)操作者(zhe)讀(du)數。