三豐粗糙(cao)度(du)儀是壹種常用於工業領(ling)域(yu)的(de)精密(mi)儀器(qi)，主要用於測(ce)量材(cai)料表(biao)面(mian)的(de)粗糙(cao)度(du)。廣泛應(ying)用(yong)於機(ji)械制造(zao)、汽車(che)工(gong)業、航(hang)空航(hang)天等(deng)行業，尤(you)其(qi)在生(sheng)產過程(cheng)中對(dui)表(biao)面(mian)質量有(you)著嚴格要求的(de)領(ling)域(yu)。通(tong)過高精度(du)的探(tan)測(ce)技術(shu)，能(neng)夠(gou)準(zhun)確(que)地(di)檢(jian)測(ce)出材(cai)料表(biao)面(mian)的(de)微小(xiao)不(bu)平(ping)整之(zhi)處(chu)，從(cong)而(er)為(wei)制(zhi)造(zao)工藝(yi)的(de)改(gai)進和產品質量的(de)提(ti)升提(ti)供(gong)重要依據。
1.測(ce)量探(tan)頭：
測(ce)量探(tan)頭是粗糙(cao)度(du)儀的(de)核(he)心(xin)部(bu)件(jian)，負責(ze)感應(ying)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)的(de)變化(hua)。探(tan)頭壹般采(cai)用(yong)高精度(du)的觸(chu)針或激(ji)光裝置。觸針式探頭通(tong)過機(ji)械方(fang)式接觸(chu)到(dao)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)，而(er)激(ji)光式探頭則通(tong)過光學技術(shu)進行無(wu)接觸(chu)測(ce)量。
2.信(xin)號處(chu)理系(xi)統：
信(xin)號處(chu)理系(xi)統將探(tan)頭采(cai)集到(dao)的(de)微小(xiao)表(biao)面(mian)變(bian)化轉(zhuan)化(hua)為(wei)電(dian)信(xin)號，並(bing)經(jing)過壹系(xi)列的(de)處理得到(dao)粗糙(cao)度(du)參數(shu)。通(tong)過信(xin)號處(chu)理系(xi)統，粗糙(cao)度(du)儀能(neng)夠(gou)根據不(bu)同(tong)的(de)工作(zuo)模式輸(shu)出不同(tong)的(de)粗糙(cao)度(du)測(ce)量結(jie)果。
3.顯示屏和控制面(mian)板(ban)：
通(tong)常配備壹個顯(xian)示(shi)屏，實時(shi)顯(xian)示測(ce)量結(jie)果。控制面(mian)板(ban)則用於設置儀器(qi)的測(ce)量參(can)數(shu)、操作(zuo)模式等(deng)，並提(ti)供(gong)用(yong)戶(hu)交(jiao)互(hu)的界(jie)面(mian)。
4.計算(suan)系(xi)統：
計算(suan)系(xi)統負責(ze)對測(ce)量數(shu)據進行進壹步的(de)處(chu)理與(yu)分析(xi)，根據壹定的(de)計(ji)算(suan)公式得出各種表面(mian)粗(cu)糙度(du)參數(shu)，如Ra（算(suan)術(shu)平均(jun)粗(cu)糙(cao)度(du)）、Rq（均(jun)方(fang)根(gen)粗(cu)糙(cao)度(du)）、Rt（最大(da)高度(du)）、Rz（十點(dian)高(gao)度(du)）等(deng)。
三豐粗糙(cao)度(du)儀的(de)測(ce)量方(fang)法(fa)：
1.觸針式測(ce)量法(fa)：
觸針式測(ce)量是通(tong)過壹根精(jing)密(mi)的探(tan)針在材(cai)料表(biao)面(mian)沿指(zhi)定方(fang)向(xiang)滑(hua)動(dong)，探針隨著表面(mian)起伏上下(xia)波動(dong)，並將這些變化轉(zhuan)化(hua)為(wei)電(dian)信(xin)號。觸(chu)針式測(ce)量適(shi)用(yong)於大多(duo)數(shu)金(jin)屬(shu)、塑(su)料等(deng)材(cai)料的(de)粗糙度(du)測(ce)量，能(neng)夠(gou)提(ti)供(gong)高(gao)精(jing)度(du)的數(shu)據。
2.光學式測(ce)量法(fa)：
光學式測(ce)量通(tong)過激(ji)光或其(qi)他(ta)光學(xue)傳(chuan)感(gan)器進行無(wu)接觸(chu)測(ce)量。它(ta)適(shi)用(yong)於表面(mian)較軟(ruan)或不(bu)宜(yi)接觸(chu)的(de)材(cai)料（如玻璃、陶瓷等(deng)）的測(ce)量。光(guang)學(xue)測(ce)量的(de)優(you)勢(shi)在於其(qi)不(bu)會(hui)對表(biao)面(mian)造(zao)成任(ren)何(he)物(wu)理損傷，且測(ce)量速(su)度(du)較快。
