對於(yu)任何(he)測量(liang)，測(ce)量(liang)結果的(de)質量(liang)取決於(yu)測量(liang)儀(yi)器和操作者(zhe)處理測(ce)量(liang)過(guo)程(cheng)的(de)細(xi)心程(cheng)度(du)。許多計量(liang)器(qi)的(de)設計都是(shi)為(wei)了讓(rang)這壹切變(bian)得(de)盡可能(neng)簡(jian)單。例如，卡規(gui)配備參考(kao)測(ce)量(liang)面、框(kuang)架(jia)和(he)測(ce)量(liang)裝(zhuang)置(zhi)。臺式測(ce)量(liang)儀(yi)也是(shi)如此(ci)。要(yao)得(de)到壹次良(liang)好(hao)的(de)測量(liang)，操作者(zhe)真正需要(yao)做(zuo)的(de)就是(shi)正確地(di)將量(liang)規(gui)應用到零件(jian)上(shang)。
而當(dang)使用三豐(feng)測(ce)高(gao)儀(yi)時，情(qing)況(kuang)就不(bu)同(tong)了(le)。三(san)豐(feng)測(ce)高(gao)儀(yi)不(bu)像(xiang)其(qi)他儀(yi)器(qi)那樣(yang)獨立(li)運行(xing)，它們有(you)精確的(de)光柵(zha)尺和傳感探(tan)頭(tou)，但沒(mei)有(you)內基(ji)準(zhun)，這是關(guan)鍵(jian)的(de)部分。大多數的(de)電子測高(gao)儀(yi)都是在(zai)大理石平板上(shang)使(shi)用的(de)，該平板為三豐(feng)測(ce)高(gao)儀(yi)和被測工(gong)件(jian)提(ti)供(gong)了參(can)考(kao)平面。這種平板的(de)質量(liang)直(zhi)接影響(xiang)測(ce)量(liang)結果。因(yin)此(ci)，保(bao)持平面沒(mei)有(you)灰(hui)塵(chen)、碎片和(he)汙(wu)垢(gou)是很(hen)重(zhong)要(yao)的(de)。
大多數測(ce)高(gao)儀(yi)都是直接讀(du)數(shu)的(de)，通(tong)常(chang)量(liang)程(cheng)在(zai)36英寸的(de)範(fan)圍內(nei)。因(yin)此(ci)，它(ta)們特別容易受到溫度(du)變(bian)化的(de)影響。因為(wei)操作者(zhe)人體(ti)的(de)溫度(du)(98.6ºF)明(ming)顯(xian)高(gao)於(yu)室(shi)溫(68ºF),任(ren)何(he)熱量(liang)對(dui)測量(liang)系(xi)統(tong)(底座(zuo)、工(gong)件(jian)、高(gao)度(du)測量(liang)儀(yi),測針)的(de)影響都可(ke)以(yi)引起(qi)局(ju)部熱膨(peng)脹(zhang)和(he)測(ce)量(liang)誤(wu)差。
使用自(zi)動(dong)測(ce)高(gao)儀(yi)時，只要(yao)打開(kai)儀器(qi)就會(hui)自(zi)動(dong)進(jin)行(xing)置(zhi)零。在(zai)手(shou)動(dong)驅(qu)動(dong)的(de)儀器中(zhong)，儀器(qi)在(zai)使用前必(bi)須(xu)在(zai)大理石臺面上(shang)置(zhi)零。通(tong)過電(dian)機(ji)驅(qu)動(dong)單元(yuan)，儀器(qi)會(hui)自(zi)動(dong)向(xiang)下(xia)移動以(yi)接觸(chu)表面並設(she)置(zhi)其(qi)參考(kao)零位(wei)。
