TESA測(ce)高儀(yi)HITE造就高品質(zhi)設計
TESA測高儀(yi)HITE傑(jie)出(chu)的設計，專註測量(liang)平(ping)面、平(ping)行或圓(yuan)柱(zhu)表面的內(nei)部、外(wai)部、高度、深(shen)度、階(jie)梯(ti)和距(ju)離(li)等(deng)任(ren)何幾何特征尺寸。
TESA測高儀(yi)HITE自(zi)動搜索(suo)孔或軸(zhou)的頂(ding)點(dian)，在動態探(tan)測中(zhong)記(ji)錄(lu)zui大、zui小值以(yi)及(ji)zui大zui小值之(zhi)間的差值(zhi)計算。
TESAIG-13數(shu)字(zi)式測頭可(ke)以測量(liang)垂直(zhi)度、直線度、平(ping)行度等(deng)偏(pian)差和跳動誤差，並(bing)以(yi)ISO1101標(biao)準(zhun)輸(shu)出(chu)數(shu)據。
-在電子測(ce)高儀(yi)上20年的制造經驗造就了高品質(zhi)的設計，代(dai)表了當今(jin)的技(ji)術水平(ping)的發展。
TESA測高儀(yi)HITE存(cun)在故(gu)障(zhang)
報(bao)修(xiu)故(gu)障(zhang)：無(wu)信號，防塵皮帶壞。
實測(ce)故(gu)障(zhang)：讀(du)數(shu)頭壞(huai)，皮帶損壞。
TESA測高儀(yi)HITE服務周期(qi)
配件(jian)出(chu)貨(huo)周期(qi)：現(xian)貨(huo)。
服務周期(qi)(含配件(jian)出(chu)貨(huo)周期(qi))：現(xian)場(chang)。
維(wei)修(xiu)記(ji)錄(lu)
拆解(jie)設備(bei)，清(qing)理油(you)汙(wu)。
清(qing)理導(dao)軌。
清(qing)理光柵。
更(geng)換(huan)防塵皮帶。
更(geng)換(huan)讀(du)數(shu)頭。
讀(du)數(shu)頭信(xin)號調(tiao)協。
機(ji)械調(tiao)整(zheng)外(wai)殼(ke)
重(zhong)新組裝，調(tiao)校精度。
