塗(tu)層測(ce)厚(hou)儀主(zhu)要(yao)功能
有(you)十(shi)種(zhong)測(ce)頭(tou)類型可供(gong)選(xuan)擇，測(ce)頭(tou)接(jie)觸部(bu)件鍍(du)硬(ying)鉻(ge)或為(wei)紅(hong)寶石(shi)，經久(jiu)耐(nai)用(yong)；
通過(guo)選擇(ze)相應(ying)的(de)測(ce)頭(tou)，既可(ke)測(ce)量磁(ci)性金屬基(ji)體(ti)上非(fei)磁(ci)性覆蓋層的(de)厚(hou)度(du)，又(you)可(ke)測(ce)量非(fei)磁(ci)性金屬基(ji)體(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)覆蓋層的(de)厚(hou)度(du)；
具(ju)有測(ce)頭(tou)零點校(xiao)準、壹(yi)點校(xiao)準、兩(liang)點(dian)校(xiao)準功(gong)能, 並可(ke)用基(ji)本校準法對(dui)測(ce)頭(tou)的系(xi)統誤差進行(xing)修(xiu)正；
具(ju)有兩(liang)種(zhong)測(ce)量方式：單(dan)次(ci)測(ce)量方式和連(lian)續(xu)測(ce)量方式
具(ju)有測(ce)量狀(zhuang)態(tai)提示(shi)功能；
有(you)EL 背(bei)光顯示(shi)，方便在(zai)光線(xian)昏暗環(huan)境(jing)中使(shi)用(yong)；
有(you)剩(sheng)余(yu)電(dian)量指示(shi)功能，可(ke)實時顯示(shi)電(dian)池剩(sheng)余(yu)電(dian)量；
具(ju)有自(zi)動(dong)休眠、自(zi)動(dong)關機等(deng)節電(dian)功(gong)能；
帶(dai)有USB1.1 通訊(xun)接(jie)口(kou)，可將(jiang)測(ce)量值(zhi)傳(chuan)輸(shu)至PC 機。
可選(xuan)擇(ze)配備(bei)微(wei)機軟件，具(ju)有傳(chuan)輸(shu)測(ce)量結(jie)果、測(ce)值(zhi)存儲(chu)管(guan)理、測(ce)值(zhi)統計分(fen)析、打(da)印(yin)測(ce)值(zhi)報(bao)告(gao)等(deng)豐富(fu)功能；
采用(yong)鋁制外殼，小巧(qiao)、便攜(xie)、堅(jian)實耐(nai)用(yong)，適(shi)用(yong)於惡劣的操(cao)作環(huan)境，抗(kang)振(zhen)動(dong)、沖(chong)擊和電(dian)磁(ci)幹擾(rao)；
 塗(tu)層測(ce)厚(hou)儀基(ji)本測(ce)量步(bu)驟(zhou)
1） 準備(bei)好待測(ce)工(gong)件；
2） 將(jiang)測(ce)頭(tou)插(cha)頭(tou)插(cha)入主(zhu)機的測(ce)頭(tou)插(cha)座中；
3） 儀器(qi)開(kai)機；
4） 判(pan)斷是否(fou)需(xu)要(yao)校準儀器(qi)。如果(guo)需要(yao)，選擇適當(dang)的(de)校準方法進行(xing)校(xiao)準(zhun)；
5） 測(ce)量。將(jiang)測(ce)頭(tou)垂直(zhi)接(jie)觸工(gong)件的(de)測(ce)試(shi)面(mian)，並輕(qing)壓(ya)測(ce)頭(tou)加(jia)載套，當(dang)測(ce)頭(tou)與被(bei)測(ce)表(biao)面(mian)接(jie)觸穩(wen)定(ding)後，隨著壹(yi)聲蜂鳴聲，屏(ping)幕(mu)將(jiang)顯示(shi)測(ce)量標(biao)識(shi)和測(ce)量值(zhi)。如果(guo)測(ce)量標(biao)識(shi)閃爍或無測(ce)量標(biao)識(shi)則表示(shi)測(ce)頭(tou)不穩(wen)定(ding)。移開(kai)測(ce)頭(tou)後，測(ce)量標(biao)識(shi)消(xiao)失，厚(hou)度(du)值保持(chi)。
6） 儀器(qi)關機。
塗層測(ce)厚(hou)儀 註(zhu)意(yi)！
1 如果(guo)在測(ce)量中測(ce)頭(tou)放(fang)置不穩(wen)，會引起測(ce)量值(zhi)與實際(ji)值(zhi)偏差較(jiao)大(da)；
2 如果(guo)已經(jing)進行(xing)了適當(dang)的(de)校準，所(suo)有(you)的(de)測(ce)量值(zhi)將(jiang)保持(chi)在(zai)壹(yi)定的(de)誤差範(fan)圍(wei)內(nei)
3 根據統計學(xue)的觀點，壹(yi)次(ci)讀(du)數是不可(ke)靠(kao)的(de)。因(yin)此儀器(qi)的(de)任何(he)壹(yi)個測(ce)量值(zhi)都(dou)是五次(ci)"看(kan)不見(jian)"的(de)測(ce)量的(de)平均(jun)值(zhi)。這五次(ci)測(ce)量是在(zai)幾分之壹(yi)秒的(de)時間(jian)內(nei)由測(ce)頭(tou)和儀器(qi)完成的；
4 為(wei)使(shi)測(ce)量更加(jia)，可在壹(yi)個點(dian)多次(ci)測(ce)量，並計算(suan)其(qi)平均(jun)值(zhi)作(zuo)為(wei)zui終測(ce)量結(jie)果；
5顯示(shi)測(ce)量結(jie)果後，壹(yi)定要(yao)提起測(ce)頭(tou)至距(ju)離(li)工(gong)件10mm 以上(shang)，才(cai)可以進行(xing)下(xia)次(ci)測(ce)量。
塗(tu)層測(ce)厚(hou)儀零點校(xiao)準
    在(zai)每次(ci)開(kai)機後、更換測(ce)頭(tou)、更換電(dian)池、環境溫度變化較(jiao)大(da)或者(zhe)測(ce)量出(chu)現(xian)偏(pian)差時應(ying)對(dui)測(ce)頭(tou)進行(xing)零點校(xiao)準。此(ci)步(bu)驟(zhou)對(dui)保證測(ce)量準(zhun)確(que)度十(shi)分關鍵(jian)。如有(you)必要(yao)，可重復多次(ci)。步(bu)驟(zhou)如下(xia)：
1） 在基(ji)體(ti)上進行(xing)壹(yi)次(ci)測(ce)量，屏(ping)幕(mu)顯示(shi)<X.Xμm >；然後提起測(ce)頭(tou)。
2） 按(an)鍵，屏(ping)幕(mu)顯示(shi)<0.0μm >。
3） 重復上(shang)述1）、2）步(bu)驟(zhou)可獲得(de)更為的零點，提高(gao)測(ce)量精度。零點校(xiao)準完成後就可(ke)進行(xing)測(ce)量了。
塗層測(ce)厚(hou)儀二點校(xiao)準
    兩點校準(zhun)法又(you)分(fen)壹(yi)試片(pian)法和二試片(pian)法。
    維(wei)護及(ji)註意(yi)事(shi)項(xiang)壹(yi)般註意(yi)事(shi)項(xiang)
 應(ying)避免(mian)儀器(qi)及(ji)測(ce)頭(tou)受到強烈震(zhen)動(dong)；
 避(bi)免(mian)儀器(qi)置於過(guo)於潮(chao)濕的(de)環境(jing)中；
 插(cha)拔測(ce)頭(tou)時，應(ying)捏住(zhu)活(huo)動(dong)外套沿(yan)軸線用力(li)，不可(ke)旋(xuan)轉(zhuan)測(ce)頭(tou)，以免(mian)損(sun)壞(huai)測(ce)頭(tou)電(dian)纜芯線。
 油(you)、灰塵的附著會使(shi)測(ce)頭(tou)線逐漸老(lao)化、斷(duan)裂(lie)，使(shi)用(yong)後應清(qing)除(chu)纜線上的汙(wu)垢。
塗(tu)層測(ce)厚(hou)儀電(dian)池檢查(zha)
     電(dian)池容量接(jie)近(jin)用(yong)完時，應(ying)該及(ji)時更換電(dian)池，以免(mian)影響測(ce)量精度。儀器(qi)長(chang)時間(jian)不使(shi)用(yong)時應(ying)將(jiang)電(dian)池取出，以免(mian)電(dian)池漏(lou)液，腐(fu)蝕儀器(qi)盒(he)與電(dian)極(ji)片。註(zhu)意(yi)電(dian)池安裝(zhuang)時的(de)正負(fu)極(ji)性！極(ji)性顛(dian)倒可能導(dao)致(zhi)儀器(qi)損(sun)壞(huai)！
     校零基(ji)體(ti)的維(wei)護
校(xiao)零基(ji)體(ti)的表(biao)面狀(zhuang)況對(dui)於測(ce)頭(tou)校零影響較(jiao)大，所(suo)以請註意(yi)保護校(xiao)零基(ji)體(ti)以防(fang)止表面(mian)劃傷(shang)、生(sheng)銹(xiu)。
     機殼的清(qing)潔(jie)
酒(jiu)精、稀釋液(ye)等(deng)對(dui)機殼尤其(qi)是視(shi)窗(chuang)有(you)腐(fu)蝕作用，故清洗時，用(yong)少量清(qing)水(shui)輕輕擦(ca)拭(shi)即(ji)可(ke)。
     儀器(qi)維(wei)修
當(dang)儀器(qi)出(chu)現(xian)非(fei)正常現(xian)象（如儀器(qi)損(sun)壞(huai)，不能測(ce)量；液(ye)晶(jing)顯示(shi)異常；誤差過(guo)大；鍵(jian)盤操(cao)作失靈(ling)或(huo)混亂(luan)等(deng)）時，請不要(yao)拆卸(xie)或調節任
何(he)固定(ding)裝配之零部件，請交(jiao)給(gei)我(wo)公(gong)司維(wei)修部門(men)檢測(ce)、維(wei)修。