1.儀(yi)器的(de)日(ri)常維護(hu)
   1）儀器使(shi)用(yong)完畢(bi)後(hou)，應放入(ru)清(qing)潔、幹(gan)燥(zao)的(de)儲(chu)存(cun)箱(xiang)裏(li)，避(bi)免沖擊(ji)和振動(dong)。
   2）探(tan)頭(tou)應避(bi)免敲擊(ji)和強烈(lie)振動並(bing)保持清(qing)潔，被(bei)測(ce)物(wu)上的汙(wu)物在(zai)測(ce)量(liang)前必(bi)須被(bei)清(qing)除(chu)。
   3）儀器長(chang)時(shi)間(jian)不(bu)用(yong)時，應(ying)取出電池(chi)，以免電池(chi)漏(lou)液損壞(huai)儀器
2.校正(zheng)方(fang)法
    用(yong)戶拿到(dao)的(de)新(xin)儀器都(dou)必(bi)須由(you)用(yong)戶自(zi)己根據(ju)實際測試(shi)材料進(jin)行(xing)校正(zheng)。具體操作(zuo)需(xu)要(yao)隨機(ji)提供(gong)的3塊(kuai)標準(zhun)箔片和由用(yong)戶實際被(bei)測(ce)材料做的基(ji)板，三(san)塊(kuai)標準(zhun)箔片的厚度(du)依次(ci)為20μm、200μm、1200μm左右(you)。使(shi)用(yong)時由(you)薄(bo)到(dao)厚(hou)進(jin)行(xing)，這個(ge)次(ci)序(xu)不能(neng)搞(gao)錯(cuo)。基板應直(zhi)接用(yong)未塗（鍍(du)）的被(bei)測(ce)零(ling)件(jian)或(huo)將(jiang)被(bei)測(ce)零(ling)件(jian)上的塗(tu)（鍍）層(ceng)去(qu)除(chu)，且基(ji)板的表面(mian)應(ying)平(ping)整(zheng)、光潔。千萬(wan)不(bu)要使用(yong)隨機(ji)的基(ji)板，它(ta)僅(jin)作(zuo)儀(yi)器試(shi)驗用(yong)。除(chu)非妳(ni)的(de)被(bei)測(ce)材料沒(mei)有(you)基體，僅(jin)是(shi)壹層膜(mo)。校正(zheng)操作(zuo)按(an)下(xia)表進(jin)行(xing)。
3.基本操作(zuo)方(fang)法
   1）用(yong)螺絲(si)刀撬開(kai)儀(yi)器背(bei)面(mian)的(de)電池(chi)盒蓋，裝入(ru)電池(chi)。按(an)ON/OFF鍵接通儀(yi)器電源，儀(yi)器開(kai)始(shi)運行(xing)自(zi)檢(jian)程序(xu)，當顯示(shi)數(shu)字(zi)為零，表示儀(yi)器功(gong)能(neng)正(zheng)常，即可開(kai)始(shi)測量。
   2）將(jiang)探(tan)頭(tou)平穩(wen)地(di)放(fang)在(zai)測(ce)量(liang)物上，顯示(shi)器上(shang)出現(xian)標誌(zhi)，表示數(shu)據(ju)采集(ji)已(yi)在(zai)進(jin)行(xing)中，當探(tan)頭(tou)放置穩(wen)定後(hou)，塗(tu)層(ceng)厚(hou)度(du)值就(jiu)在(zai)顯(xian)示(shi)器上(shang)顯(xian)示出來，壹次(ci)測(ce)量即告完成(cheng)。把(ba)探(tan)頭(tou)向上至少(shao)提(ti)高5mm，儀(yi)器開(kai)始(shi)新的壹次(ci)測(ce)量。每(mei)次(ci)測(ce)量結果已自(zi)動(dong)存儲於(yu)機(ji)內。
   3）通過(guo)多次(ci)測(ce)量後，按(an)RES鍵可依次(ci)顯(xian)示出測量(liang)結果的平均(jun)值、zui大(da)值、zui小值、標準(zhun)偏(pian)差(cha)和(he)測(ce)量次(ci)數(shu)。按(an)RES鍵後，如再(zai)次(ci)測(ce)量，儀器將(jiang)自(zi)動(dong)清除(chu)以前(qian)的測量(liang)值，並(bing)存(cun)儲(chu)新(xin)的(de)測(ce)量值。
   4）如果(guo)在(zai)測(ce)量(liang)中，因(yin)探(tan)頭(tou)放置不穩(wen)，顯示(shi)出壹個明(ming)顯錯(cuo)誤(wu)測量(liang)值，可按(an)DEL鍵消(xiao)除(chu)該(gai)測量(liang)值，以免影響統計(ji)結果的準(zhun)確性(xing)。探(tan)頭(tou)提離過(guo)快(kuai)等(deng)原(yuan)因(yin)，儀器未能(neng)采(cai)集(ji)到(dao)數(shu)據(ju)，顯示值為零，這時(shi)顯(xian)示的零(ling)不影響(xiang)zui後(hou)的統計(ji)結果。
   5）儀器使(shi)用(yong)完畢(bi)後(hou)，按(an)ON/OFF鍵，關閉電源。本儀器有(you)自(zi)動(dong)關機功(gong)能(neng)，如(ru)不進(jin)行(xing)任(ren)何操作(zuo)，大(da)約(yue)五(wu)分(fen)鐘後(hou)就(jiu)自(zi)動(dong)關機。
   6）本儀器有(you)電源狀態(tai)指示(shi)功(gong)能(neng),當電源電壓不(bu)足時(shi)，顯示器左(zuo)上(shang)角顯(xian)示(shi)“BAT”。此(ci)後(hou)，儀(yi)器雖(sui)仍(reng)能(neng)工(gong)作約(yue)二小時，但建(jian)議用(yong)戶此(ci)時(shi)應(ying)更(geng)換(huan)電池(chi)。
   7）除(chu)上述(shu)常規(gui)的(de)工(gong)作模(mo)式外(wai)，本儀器還(hai)有壹種連續顯(xian)示(shi)模(mo)式。在(zai)常規(gui)工(gong)作模(mo)式下(xia),按(an)△鍵即可進(jin)入(ru)連續顯(xian)示(shi)模(mo)式，這時(shi)顯(xian)示器右(you)上(shang)角出現(xian)“FREE”標誌(zhi)。在(zai)該(gai)狀態(tai)下，測(ce)量值不儲(chu)存(cun)，每(mei)次(ci)測(ce)量完成(cheng)後(hou)，探(tan)頭(tou)不必(bi)提離(li)被(bei)測(ce)物(wu)，測量和(he)顯示仍(reng)繼(ji)續進(jin)行(xing)。這樣(yang)，通過(guo)探(tan)頭(tou)在(zai)被(bei)測(ce)物(wu)表面(mian)移動，可(ke)觀察(cha)到(dao)測(ce)量(liang)值的連續變(bian)化。再(zai)次(ci)按(an)△鍵即可退(tui)回(hui)到(dao)常規(gui)工(gong)作模(mo)式，這時(shi)“FREE”標誌(zhi)消(xiao)失(shi)。
測(ce)量(liang)值的變(bian)化壹般是(shi)由於(yu)塗(tu)鍍(du)層(ceng)厚(hou)度不均(jun)勻(yun)引起(qi)的(de)，但被(bei)測(ce)零(ling)件(jian)的表面(mian)曲(qu)率(lv)變(bian)化或(huo)邊(bian)緣效應(ying)以(yi)及(ji)基體表面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)也會造成(cheng)測(ce)量值的變(bian)化。
   8）測(ce)量(liang)微(wei)小零(ling)件(jian)時，建(jian)議使(shi)用(yong)適當的夾(jia)具固(gu)定(ding)被(bei)測(ce)件(jian)。