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        1. 蘇(su)州勒(le)豐(feng)精密(mi)儀器有限公司
          聯系(xi)人(ren):劉(liu)小姐(jie)
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          網(wang)站首(shou)頁 >> 技(ji)術(shu)文(wen)章(zhang) >> 點(dian)規(gui),點(dian)線(xian)規(gui),汙(wu)點卡,對比(bi)卡,三星(xing)點(dian)規(gui),索尼(ni)點(dian)規(gui),A4點(dian)規(gui)
          點(dian)規(gui),點(dian)線(xian)規(gui),汙(wu)點卡,對比(bi)卡,三星(xing)點(dian)規(gui),索尼(ni)點(dian)規(gui),A4點(dian)規(gui)
          更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2012-02-10   點(dian)擊(ji)次數(shu):6252次

           

          電(dian)子(zi)廠品(pin)檢(jian)用(yong)點規(gui)線(xian)規(gui)圖(tu),方便品檢(jian)員規(gui)範(fan)統壹(yi)標準。各種尺寸大(da)小,汙點(dian)卡、點規(gui)主(zhu)要用(yong)於(yu)品管(guan)部門判定汙點,是用來(lai)測(ce)量(liang)、對比(bi)手機外(wai)殼、LENSDISPLAY等(deng)部件的點、劃(hua)痕的(de)面(mian)積(ji)、直(zhi)徑、寬(kuan)度、長度是否超過(guo)基(ji)準,適用(yong)在(zai)LCD,PCB板(ban),光(guang)電,通信行業等.通過(guo)外(wai)觀等級(ji)的(de),采(cai)用(yong)點(dian)規(gui)線(xian)規(gui)卡客觀的進(jin)行定量(liang)測(ce)定,從而(er)統壹(yi)全公(gong)司產(chan)品(pin)的(de)外(wai)觀判定標準,縮小零部件接(jie)收部門和(he)供應(ying)商之(zhi)間的判定誤(wu)差(cha),可以正(zheng)確的(de)向供應(ying)商和(he)接(jie)收部門傳達所(suo)要求的產(chan)品(pin)的(de)外(wai)觀,而(er)不需要制作(zuo)限度樣(yang)品(pin),不需要外(wai)觀的等級(ji)!
          點(dian)規(gui)尺(chi)寸:各種大小,
          點:從(cong)0.1到(dao)3.00
          線(xian):0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0
          面:0.08到(dao)1.5

          點規(gui)的(de)作(zuo)用
          以(yi)確定壹(yi)個(ge)不規(gui)則(ze)的(de)點或(huo)線(xian)性刮(gua)傷(shang)可不可以通過(guo)檢驗(yan)要求

          點規(gui)的(de)組成(cheng)
          點(dian)規(gui)的(de)大小通常為A4紙(zhi)的(de)大小,它是由(you)點(dian)區(qu)、25%灰(hui)界面(mian)和(he)刻度線(xian)組成(cheng)

          點(dian)規(gui)的(de)使(shi)用(yong)方(fang)法
          當(dang)遇到壹(yi)個(ge)不規(gui)則(ze)的(de)點,首(shou)先(xian)確定它的(de)大致(zhi)大(da)小在(zai)點規(gui)上(shang)找到差(cha)不多相同(tong)的點,在(zai)確定不規(gui)則(ze)點(dian)的形(xing)狀,然後(hou)在(zai)剛才在(zai)點規(gui)上(shang)找到大小相似(si)點(dian)的行中,在(zai)找到(dao)形狀相似(si)的(de)。然後(hou)覆(fu)蓋(gai)上(shang),若可以蓋(gai)住,在(zai)看(kan)其(qi)大(da)小是否允(yun)許通過(guo),若可以則(ze)通過(guo),否則(ze)不可以通過(guo)

          分(fen)享(xiang)到(dao):

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