便(bian)攜(xie)式裏氏(shi)硬度計因(yin)其(qi)具有(you)體(ti)積小、重(zhong)量(liang)輕、便(bian)於攜(xie)帶、檢測(ce)範(fan)圍廣、任何位(wei)置均(jun)可(ke)使用(yong)、操(cao)作方(fang)便(bian)、檢測(ce)速度快、可(ke)換(huan)算(suan)成(cheng)各(ge)種(zhong)硬度值等(deng)諸(zhu)多(duo)優點(dian),應(ying)用(yong)日益(yi)廣泛。
壹、影響測(ce)試精(jing)度的因(yin)素
①試件的預(yu)處理(li)。為(wei)了消(xiao)除(chu)由(you)於表面粗糙(cao)引起的測(ce)試誤(wu)差(cha),試件的被測(ce)表面(mian)必須(xu)露(lu)出金屬(shu)光(guang)澤(ze),並(bing)且(qie)平整(zheng)、光(guang)滑,表面(mian)粗糙(cao)度Ra值應(ying)達(da)到(dao)2um(相當於(yu)原(yuan)國(guo)標▽6),否(fou)則測(ce)試值不準(zhun)。
②被測(ce)表面(mian)應(ying)清潔、不得(de)有(you)油汙(wu),否則(ze)測(ce)試值不準(zhun)。
③曲面(mian)工(gong)件測(ce)試。曲率半(ban)徑(jing)R小(xiao)於30mm的試(shi)件在測(ce)試時(shi)應(ying)使用(yong)小支(zhi)承(cheng)環(huan),否(fou)則(ze)測(ce)試值不準(zhun)。
④小試件測(ce)試時(shi)的支(zhi)承(cheng)。重(zhong)量(liang)大於5kg的試(shi)件,不需要(yao)支承(cheng)。對小(xiao)於(yu)5kg的試(shi)件,由於(yu)沖(chong)擊(ji)力會使試件移動(dong)而導(dao)致(zhi)測(ce)試值不準(zhun),壹(yi)般(ban)不宜(yi)應(ying)用(yong)。如需應(ying)用(yong),需采取(qu)以下(xia)措施:用(yong)重量(liang)大於5kg的物(wu)體(ti)牢固地(di)將其(qi)支承(cheng);試(shi)件(jian)與支(zhi)承(cheng)體(ti)的耦(ou)合(he)表面(mian)必須(xu)平整(zheng)、光(guang)滑、保證(zheng)緊(jin)密耦合(he);可(ke)在耦合(he)平面間(jian)使用(yong)耦合(he)劑,但(dan)用(yong)量(liang)不得(de)太(tai)大;測(ce)試方(fang)向必須(xu)垂直(zhi)於耦(ou)合(he)平面。
⑤試件的厚(hou)度應(ying)小(xiao)於5mm。當試件(jian)為(wei)大面積板材(cai)時(shi),應(ying)在測(ce)試點(dian)的背(bei)面加固或支撐,否則(ze)即(ji)使厚(hou)度較(jiao)大仍(reng)可(ke)能因(yin)試件(jian)變(bian)形導(dao)致(zhi)測(ce)試值不準(zhun)。
⑥試件本身不得(de)帶磁,否則(ze)測(ce)試值不準(zhun)。
二、測(ce)試操(cao)作要(yao)求
①測(ce)試點(dian)選位(wei):兩測(ce)試點(dian)間(jian)距應(ying)>3mm。
②放置:應(ying)將沖(chong)擊(ji)裝(zhuang)置支(zhi)承(cheng)環(huan)壓(ya)緊(jin)在被測(ce)表面(mian),③按(an)動(dong)沖(chong)擊(ji)裝(zhuang)置釋(shi)放鈕(niu)的測(ce)試瞬(shun)間(jian),應(ying)保(bao)持工(gong)件、沖(chong)擊(ji)裝(zhuang)置、操(cao)作員(yuan)身(shen)體(ti)均(jun)處於(yu)穩定狀態。
三、工作環(huan)境(jing)溫(wen)度:
-10℃~+55℃。
四、校(xiao)驗(yan):
測(ce)試前(qian)先(xian)使用(yong)標準(zhun)塊(kuai)對儀(yi)器進行校(xiao)驗(yan)。
五、數(shu)值處(chu)理(li):
測(ce)試結果應(ying)取(qu)3~5次或更(geng)多(duo)次測(ce)試的平均(jun)值。偏(pian)離正常(chang)範(fan)圍的單(dan)個(ge)大誤(wu)差(cha)數(shu)據可(ke)刪(shan)除(chu)。
六、檢定:
每年(nian)至少檢定壹次,檢定合(he)格(ge)才能繼續(xu)使用(yong)。