電(dian)導(dao)率測量(liang)儀溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定方(fang)法(fa)及問題。使用電(dian)導(dao)率儀的(de)用戶(hu)都知(zhi)道(dao)這壹點(dian)，溶液的(de)電(dian)導(dao)率與(yu)溫(wen)度(du)密(mi)切相關(guan)，因(yin)為溫(wen)度(du)發(fa)生(sheng)變(bian)化(hua)時(shi)，電(dian)解(jie)質的(de)電(dian)離度、溶解(jie)度、離子遷移速(su)度(du)、溶液黏(nian)度(du)等(deng)都(dou)會發(fa)生(sheng)變(bian)化(hua)，電(dian)導(dao)率也(ye)會(hui)變化(hua)。溫(wen)度(du)升(sheng)高，電(dian)導(dao)率增(zeng)大(da)。而此(ci)刻(ke)電(dian)導(dao)率儀的(de)溫(wen)度(du)補償功(gong)能就是為了(le)克服溫(wen)度(du)的(de)影響。

　　壹(yi)、什(shen)麽是電(dian)導(dao)率測量(liang)儀的(de)溫(wen)度(du)補償功(gong)能：

　　將(jiang)溶液在(zai)實際(ji)溫(wen)度(du)下(xia)的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)轉(zhuan)換為參考溫(wen)度(du)(壹(yi)般(ban)為(wei)25℃)下(xia)的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)，使得溶液在(zai)不同溫(wen)度(du)下(xia)的(de)電(dian)導(dao)率具有可(ke)比(bi)性，現(xian)在(zai)市(shi)場上(shang)所使用的(de)電(dian)導(dao)率儀都(dou)有溫(wen)度(du)補償功(gong)能，以(yi)滿足各(ge)行(xing)各業(ye)比(bi)對或(huo)控制指(zhi)標(biao)的(de)需(xu)要(yao)。本(ben)文(wen)以(yi)使用電(dian)導(dao)率儀時(shi)，檢(jian)定過(guo)程(cheng)中(zhong)需(xu)要(yao)的(de)溫(wen)補功(gong)能說明，簡要(yao)的(de)分析(xi)討論。

　　在(zai)檢(jian)定過(guo)程(cheng)中(zhong)增(zeng)加這壹檢(jian)定項(xiang)目也很有必(bi)要(yao)。實現(xian)電(dian)導(dao)率儀溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定有兩(liang)種(zhong)方法(fa)，壹種(zhong)是溫(wen)補前的(de)KMR為定值(zhi)，壹種是溫(wen)補後(hou)的(de)KMV為定值(zhi)，兩(liang)種(zhong)方法(fa)依據的(de)原理(li)相同，具體(ti)的(de)檢(jian)定步驟(zhou)根(gen)據儀器(qi)設計的(de)不同也(ye)可(ke)分為兩(liang)種(zhong)方法(fa)。檢(jian)定過(guo)程(cheng)中(zhong)，我(wo)們(men)還發現(xian)溫(wen)度(du)設(she)置(zhi)會影響電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)，分析(xi)表明電(dian)導(dao)率儀的(de)溫(wen)度(du)補償本(ben)質上和電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)補償是相同的(de)，當儀器(qi)的(de)溫(wen)度(du)補償缺失或(huo)存(cun)在(zai)故障(zhang)時，可以(yi)利用電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)的(de)補償來實(shi)現(xian)電(dian)導(dao)率的(de)溫(wen)度(du)補償。

　　二(er)、溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定方(fang)法(fa)及問題

　　對(dui)於電(dian)導(dao)率大(da)於(yu)1×10-4S·cm-1的(de)強(qiang)電(dian)解(jie)質，電(dian)導(dao)率值(zhi)與(yu)溫(wen)度(du)存(cun)在(zai)線性關系(xi)：

　　KT=K0〔1α(T-T0)〕(1);在(zai)檢(jian)定過(guo)程(cheng)中(zhong)，只(zhi)要(yao)測得不同溫(wen)度(du)下(xia)的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)，通過(guo)JJG376-2007中(zhong)的(de)式(5)可求出(chu)儀器(qi)的(de)溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)α，從而實(shi)現(xian)對電(dian)導(dao)率儀溫(wen)度(du)補償系(xi)數(shu)的(de)檢(jian)定。

　　將(jiang)電(dian)導(dao)率儀常(chang)數(shu)Kcell設為(wei)1.00cm-1，輸(shu)入(ru)某(mou)壹信(xin)號的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)(如(ru)50μS·cm-1)，調(tiao)節(jie)溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)模(mo)擬(ni)電(dian)阻(zu)，使溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)為25℃和15℃(35℃)，再分(fen)別(bie)讀取(qu)對應(ying)電(dian)導(dao)率儀測量(liang)值(zhi)KMR和KMV。

　　問題：

　　1).國(guo)產(chan)電(dian)導(dao)率儀都(dou)是手動(dong)溫(wen)度(du)補償，溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)無(wu)法(fa)設置(zhi)，其默(mo)認值(zhi)為2.00%/℃。對於(yu)這類儀器(qi)，當溫(wen)度(du)設(she)置(zhi)為25℃時(shi)，為不補償狀態，測得的(de)電(dian)導(dao)率為(wei)KMR，而其(qi)他(ta)溫(wen)度(du)下(xia)測得的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)為補償後(hou)的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)KMV，可實現(xian)溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定。

　　2)對(dui)於(yu)不同的(de)電(dian)導(dao)率儀，其(qi)溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定步驟(zhou)也不盡相同，安(an)徽(hui)賽(sai)科(ke)環(huan)保生(sheng)產(chan)的(de)DDS-307為例：後(hou)期(qi)生(sheng)產(chan)(新型(xing))的(de)DDS-307電(dian)導(dao)率儀，調(tiao)整溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)時，電(dian)導(dao)率發(fa)生(sheng)顯(xian)著(zhu)變(bian)化(hua)，定義(yi)為(wei)I型(xing)(DDS-308、國(guo)外(wai)產(chan)的(de)電(dian)導(dao)率儀如(ru)con5等也(ye)歸(gui)於(yu)此(ci)類)。早期生(sheng)產(chan)的(de)DDS-307電(dian)導(dao)率儀，調(tiao)整溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)時，電(dian)導(dao)率沒(mei)有任(ren)何變化(hua)，為(wei)了(le)便於區(qu)別(bie)我們(men)將(jiang)其(qi)定義(yi)為(wei)II型(xing)(大(da)部(bu)分數(shu)顯式DDS-11A/12A也歸(gui)於(yu)此(ci)類)。

　　對於(yu)I型(xing)儀器(qi)，其溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)的(de)誤差(cha)可(ke)以(yi)按(an)JJG376-2007描(miao)述(shu)方(fang)法(fa)來測量(liang)，先設(she)置(zhi)好電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)，再調(tiao)整溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)。對於II型(xing)儀器(qi)，溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)對電(dian)導(dao)率值(zhi)沒(mei)有影響，並(bing)不說明溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)模(mo)擬(ni)電(dian)阻(zu)器發(fa)生(sheng)了(le)故(gu)障(zhang)，因(yin)為如(ru)果(guo)將(jiang)儀器(qi)調(tiao)到“檢(jian)查”狀態，發(fa)現(xian)調(tiao)整溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)時，電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)也發(fa)生(sheng)了(le)變(bian)化(hua)，當溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)調(tiao)整為(wei)15℃和35℃時，電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)分別(bie)變化(hua)到1.200cm-1和0.800cm-1左右(you)。

　　對(dui)於這類儀器(qi)溫(wen)度(du)補償的(de)檢(jian)定，應(ying)該(gai)先將(jiang)溫(wen)度(du)調(tiao)整為(wei)目標(biao)溫(wen)度(du)(15℃或(huo)35℃)，再調(tiao)節(jie)電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)為1.00cm-1，然(ran)後(hou)分(fen)別(bie)讀取(qu)對應(ying)的(de)電(dian)導(dao)率值(zhi)，根(gen)據式(3)就能求出(chu)儀器(qi)的(de)溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)。但是這壹類儀器(qi)得到的(de)數(shu)據，根(gen)據式(3)計算得到的(de)值(zhi)和標(biao)準(zhun)值(zhi)(α=2.0%)偏(pian)差(cha)很大(da)，且(qie)不同溫(wen)度(du)下(xia)得到的(de)溫(wen)度(du)補償系(xi)數(shu)值(zhi)差(cha)別(bie)很大(da)。這壹類儀器(qi)具有相似(si)的(de)偏(pian)差(cha)，並(bing)不是由於某(mou)臺儀器(qi)不合格引起的(de)，這個問題有待進(jin)壹步研究。

　　溫(wen)度(du)補償與(yu)電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)補償的(de)關系(xi)前面(mian)談到的(de)壹些(xie)國(guo)產(chan)電(dian)導(dao)率儀，溫(wen)度(du)設(she)置(zhi)對電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)有顯(xian)著(zhu)影響，對(dui)於(yu)儀器(qi)I(如(ru)新型(xing)DDS-307)，當溫(wen)度(du)示(shi)值(zhi)調(tiao)整為(wei)15℃和35℃時，電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)分別(bie)變化(hua)到1.250cm-1和0.833cm-1左右(you)。這種現(xian)象在(zai)II型(xing)儀器(qi)中(zhong)也(ye)能觀(guan)察(cha)到(數(shu)值(zhi)與(yu)儀器(qi)I有所(suo)差(cha)別(bie)，有待進(jin)壹步研究)。這表明溫(wen)度(du)補償和電(dian)導(dao)池常(chang)數(shu)補償是相通的(de)，兩(liang)者(zhe)具有內在(zai)的(de)聯系(xi)。