量(liang)子點簡介(jie)：

量子點（Quantum dot，QD）又稱(cheng)半導(dao)體納米(mi)晶，是(shi)壹(yi)類由(you)II-VI族(zu)元素(su)（如CdS、CdSe、CdTe、ZnSe、ZnS等(deng)）或(huo)III-V族(zu)元素(su)（無鎘量(liang)子點，如InP、InAs等(deng)）等(deng)半導(dao)體材(cai)料構成(cheng)的尺寸(cun)在(zai)1-10nm之間(jian)的納米(mi)顆粒(li)。量(liang)子點具(ju)有光色純度(du)高(gao)、發(fa)光量子效率(lv)高(gao)、發(fa)光顏色可(ke)調、使用(yong)壽(shou)命長(chang)等(deng)優(you)良(liang)特(te)性。這些特(te)性使得(de)以(yi)量子點材(cai)料作(zuo)為(wei)發(fa)光層的量子點發(fa)光二極(ji)管(guan)（QLED）在(zai)固態照明、平(ping)板顯(xian)示(shi)等(deng)領(ling)域(yu)具(ju)有廣泛的應(ying)用(yong)前景(jing)，受(shou)到了學術(shu)界以(yi)及產業界的廣泛關註(zhu)。

量(liang)子點墨水粘度測定(ding)的意義(yi)

傳統(tong)有機發(fa)光二極(ji)管(guan)顯示(shi)器件(jian)相比，QLED具(ju)有發(fa)光峰窄、色彩飽(bao)和度(du)高(gao)、色域寬(kuan)等(deng)優(you)點(dian)。當前(qian)QLED實現像(xiang)素(su)化、全(quan)彩化(hua)的解(jie)決(jue)方(fang)式(shi)有轉印法、微接(jie)觸(chu)式(shi)打印法(fa)、刮(gua)塗法(fa)、噴射打印法(fa)、噴(pen)墨打印法(fa)等(deng)。相對於前面幾種方(fang)法，噴墨打印技(ji)術(shu)可以(yi)地(di)按(an)所需用(yong)量將(jiang)量(liang)子點發(fa)光材(cai)料沈(chen)積在(zai)適(shi)當位置，使半導(dao)體材(cai)料均勻沈(chen)積形(xing)成(cheng)薄膜層，由此(ci)使得(de)材(cai)料的利用(yong)率非(fei)常高(gao)，同時制(zhi)造商可以(yi)降低(di)生產成(cheng)本(ben)，簡化制(zhi)作(zuo)工(gong)藝，產(chan)品(pin)容易(yi)量產和普及。噴墨打印技(ji)術(shu)的關鍵(jian)在(zai)於量子點墨水的制(zhi)備，墨水的粘度(du)直(zhi)接(jie)影響噴(pen)墨過程及薄膜幹(gan)燥(zao)過程(cheng)，是(shi)衡量噴墨打印效(xiao)果(guo)的重(zhong)要(yao)參(can)數(shu)。量子點墨水通(tong)常由(you)量子點材(cai)料分散在(zai)有機試劑中，由於量子點材(cai)料本(ben)身(shen)是(shi)納米(mi)顆粒(li)，所以(yi)很難(nan)得(de)到高(gao)粘度的墨水，墨水粘度過低(di)，使得(de)打印過(guo)程(cheng)中墨滴(di)不易(yi)控制(zhi)，易(yi)出現彗(hui)星(xing)點(dian)、邊(bian)緣厚(hou)中間薄的咖啡環(huan)等(deng)問(wen)題(ti)，從而(er)導(dao)致(zhi)量(liang)子點膜厚度不壹(yi)致(zhi)，均(jun)勻性很差。

大量研究表(biao)明，在(zai)量子點墨水的配制(zhi)過程中，可通(tong)過(guo)優化溶(rong)劑(ji)配方(fang)及配比，適(shi)當添加粘(zhan)度(du)調節(jie)劑，引(yin)發(fa)劑及其他(ta)助(zhu)劑(ji)等(deng)方(fang)法以(yi)適(shi)當提高(gao)墨水粘度，解(jie)決(jue)墨水因粘度(du)過(guo)低(di)而(er)導(dao)致(zhi)的上(shang)述噴(pen)墨打印的難(nan)題(ti)。使其能(neng)夠(gou)滿(man)足噴墨打印工(gong)藝要(yao)求(qiu)，實現穩定(ding)出墨、穩定(ding)鋪展(zhan)、幹(gan)燥(zao)均勻、成(cheng)膜均壹(yi)等(deng)技(ji)術(shu)要(yao)求(qiu)。 

量子點墨水粘度測定(ding)

   使用(yong)“Multi Point”功(gong)能(neng)采(cai)集(ji)數(shu)據，“Test Averaging”功(gong)能(neng)計(ji)算粘(zhan)度(du)平(ping)均值(zhi)，並觀(guan)察(cha)和分(fen)析(xi)測試(shi)過程中儀(yi)器(qi)穩(wen)定(ding)性及數(shu)據波(bo)動(dong)，根據圖2可(ke)知(zhi)，該量(liang)子點墨水在(zai)轉速為(wei)15 RPM條件(jian)下(xia)測得(de)的粘度(du)值為(wei)10.18cP；測(ce)試過(guo)程(cheng)中，數(shu)據波(bo)動(dong)非常小(xiao)，相對標準偏(pian)差僅(jin)為(wei)0.04%。Brookfield數(shu)顯粘(zhan)度(du)計(ji)*的連(lian)續感(gan)應(ying)器可(ke)以(yi)保證(zheng)測試數(shu)據輸出的實時性和準確(que)性。此外(wai)，測(ce)試過程(cheng)中，溫(wen)度非(fei)常穩(wen)定(ding)，始(shi)終(zhong)保(bao)持(chi)在(zai)25±0.01℃之間(jian)。

錐(zhui)板(ban)粘(zhan)度(du)計(ji)測試(shi)所需樣(yang)品(pin)體積僅(jin)為(wei)0.5-2.0 mL（具(ju)體的樣(yang)品(pin)量與所使用(yong)的轉子型號相關），特(te)別(bie)適(shi)用(yong)於微量樣(yang)品(pin)的粘度(du)測試(shi)，可(ke)有效減少產品的消耗(hao)；錐(zhui)板(ban)粘(zhan)度(du)計(ji)使用(yong)錐(zhui)形(xing)轉子及配套的樣(yang)品(pin)杯，可以(yi)計(ji)算剪(jian)切速(su)率(lv)和剪(jian)切應(ying)力，得(de)到粘(zhan)度；由(you)於樣(yang)品(pin)量很少，可實現快速(su)恒(heng)溫(wen)，有效(xiao)提高(gao)測試效(xiao)率(lv)。TC-650 AP循(xun)環水浴(yu)系(xi)統(tong)的控溫(wen)精(jing)度可達0.01℃，為(wei)粘(zhan)度測(ce)試(shi)提供(gong)準確(que)及穩定(ding)的溫(wen)度條件(jian)。